南开大学岳洋获国家专利权
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龙图腾网获悉南开大学申请的专利用于高通量材料表征的二维扫描系统及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114509406B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011279484.X，技术领域涉及：G01N21/47；该发明授权用于高通量材料表征的二维扫描系统及测量方法是由岳洋;王晓妍;胡家赫;许天旭;王志设计研发完成，并于2020-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于高通量材料表征的二维扫描系统及测量方法在说明书摘要公布了：用于高通量材料表征的二维扫描系统与方法，应用于高通量材料表征与扫描领域。本发明提出了两种不同的二维扫描系统与方法，其均由激光器、高效分光单元、样品、光电探测器组成，实现高采样速度、大数据量、高空间时间分辨率的材料扫描。基于空间逐点法的二维扫描系统，采用单一MEMS镜和二维1×n2MEMS镜的组合对样本进行逐点扫描；基于空间并行法的二维扫描系统，利用两个二维1×n2MEMS镜的组合进行并行扫描。两种方法均能用于高通量材料表征技术，基于MEMS的时间到二维空间映射的扫描系统和基于空间扩散分散器的直接映射到二维空间的扫描系统均能使扫描速度大幅度提升。
本发明授权用于高通量材料表征的二维扫描系统及测量方法在权利要求书中公布了：1.用于高通量材料表征的二维扫描系统，基于空间逐点法，其特征包括： 由激光器、第一准直器、第一12波片、偏振分束器、第二12波片、单MEMS反射镜、二维1×n2MEMS反射镜、样品、第二准直器、光电探测器组成，该系统由单MEMS反射镜和二维1×n2MEMS反射镜的组合进行扫描，作为本系统的高效分光单元。
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