TDK株式会社佐藤俊弥获国家专利权
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龙图腾网获悉TDK株式会社申请的专利电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114545096B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111357171.6，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质是由佐藤俊弥;林达也设计研发完成，并于2021-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质在说明书摘要公布了：在本发明的电磁环境分析系统中，图像制作部在与各测定值的测定位置相对应的位置制作显示测定值相关的信息的图像。设定多个区划。区划判定部基于上述位置信息，判定在上述图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划中的与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定区划的显示相关的信息。显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时，根据两个以上的测定值运算代表值，并基于代表值确定在区划中显示的信息。
本发明授权电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电磁环境分析系统，其中， 具备： 测定信息获取部，其获取与电磁环境相关的多个测定值； 位置信息获取部，其获取与测定了各所述测定值的测定位置相关的位置信息；以及 图像制作部，其在与各所述测定值的所述测定位置相对应的位置制作显示与所述测定值相关的信息的图像， 所述图像制作部包含： 区划判定部，其基于所述位置信息，判定在所述图像中形成与所述测定值相关的信息的显示范围的多个区划中的与所述各测定值的所述测定位置对应的所述区划；以及 显示信息确定部，其基于与所述区划对应的所述测定值确定与所述区划的显示相关的信息， 所述显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的所述测定值与一个所述区划对应时，所述两个以上的测定值是在所述区划内的相互不同的多个测定位置通过多次测定而取得的，根据所述两个以上的测定值运算代表值，并基于所述代表值确定与所述区划的显示相关的信息。
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