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TDK株式会社佐藤俊弥获国家专利权

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龙图腾网获悉TDK株式会社申请的专利电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114545108B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111360893.7,技术领域涉及:G01R31/00;该发明授权电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质是由佐藤俊弥;林达也设计研发完成,并于2021-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。

电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质在说明书摘要公布了:本发明涉及电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质。电磁环境分析系统中,第一标记在实际空间中配置于传感器上。第二标记具有能够特定相对于实际空间中摄像图像被摄像的位置的相对位置的信息并且配置于预先确定的位置。显示范围确定部基于第二标记的检测结果,确定图像中与测定值相关的信息被显示的显示范围。位置运算部基于第一标记的检测结果和第二标记的检测结果,运算第一标记和第二标记的相对位置。区划判定部基于上述相对位置判定区分了显示范围的多个区划中与测定各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于测定值确定与区划的显示相关的信息。

本发明授权电磁环境分析系统、电磁环境分析方法及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种电磁环境分析系统,其中, 是测定因测定对象物而产生的电磁场的电磁环境分析系统, 具备: 测定处理部,其基于位于实际空间并且逐次检测与电磁环境相关的信息的传感器的检测结果,取得与所述电磁环境相关的多个测定值; 摄像图像取得部,其取得在所述实际空间中被逐次摄像的摄像图像; 标记检测部,其基于所述摄像图像取得部中取得的摄像图像,检测所述实际空间中配置于所述传感器上的第一标记、和具有能够特定相对于所述实际空间中所述摄像图像被摄像的位置的相对位置的信息并且配置于测定对象物的周围的预先确定的位置的至少一个第二标记; 显示范围确定部,其基于所述至少一个第二标记的检测结果,确定所述图像中与所述测定值相关的信息被显示的显示范围; 位置运算部,其基于所述第一标记的检测结果和所述至少一个第二标记的检测结果,运算所述第一标记和所述至少一个第二标记的相对位置;及 图像制作部,其制作在与测定各所述测定值的测定位置相对应的位置显示与所述测定值相关的信息的图像, 所述图像制作部包含: 区划判定部,其基于所述位置运算部中运算的相对位置判定区分了所述显示范围的多个区划中与所述各测定值的所述测定位置对应的所述区划;及 显示信息确定部,其基于与所述区划对应的所述测定值,确定与所述区划的显示相关的信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人TDK株式会社,其通讯地址为:日本东京都;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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