中国工程物理研究院电子工程研究所冯正获国家专利权
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龙图腾网获悉中国工程物理研究院电子工程研究所申请的专利太赫兹时域光谱测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116165163B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111405388.X，技术领域涉及：G01N21/3586；该发明授权太赫兹时域光谱测试设备是由冯正;谭为;王大承;孙松设计研发完成，并于2021-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本太赫兹时域光谱测试设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种太赫兹时域光谱测试设备，包括：用于输出飞秒激光的激光器；设置在激光器的输出光路上，用于将飞秒激光分成探测激光、第一泵浦激光和第二泵浦激光的分光元件；设于磁场中，用于接收第一泵浦激光和第二泵浦激光分别从前后两个表面照射，并产生第一太赫兹脉冲和第二太赫兹脉冲的自旋太赫兹源；其中，第一太赫兹脉冲和第二太赫兹脉冲用于合光入射至待测样品；用于对探测激光与经过待测样品后的第一太赫兹脉冲、第二太赫兹脉冲合光后的光波信号进行探测，以获得待测样品的特性信息的太赫兹脉冲探测器。本申请中从两个表面对自旋太赫兹源进行泵浦激光照射激发，提升太赫兹脉冲强度，进而提高太赫兹时域光谱测试的准确性和实用性。
本发明授权太赫兹时域光谱测试设备在权利要求书中公布了：1.一种太赫兹时域光谱测试设备，其特征在于，包括： 用于输出飞秒激光的激光器； 设置在所述激光器的输出光路上，用于将所述飞秒激光分成探测激光、第一泵浦激光和第二泵浦激光三束激光的分光元件； 设于磁场中，用于接收所述第一泵浦激光和所述第二泵浦激光分别从前后两个表面照射，并产生第一太赫兹脉冲和第二太赫兹脉冲的自旋太赫兹源；其中，所述第一太赫兹脉冲和所述第二太赫兹脉冲用于合光入射至待测样品； 用于对所述探测激光与经过所述待测样品后的所述第一太赫兹脉冲、所述第二太赫兹脉冲合光后的光波信号进行探测，以获得所述待测样品的特性信息的太赫兹脉冲探测器； 所述第一泵浦激光和所述第二泵浦激光入射至所述自旋太赫兹源之前的光程相等； 所述第一太赫兹脉冲和所述第二太赫兹脉冲从所述自旋太赫兹源入射至所述待测样品的光程相等。
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