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龙图腾网获悉浙江大学宁波 五位一体 校区教育发展中心申请的专利一种芯片支架外观缺陷检测模板匹配与定位方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117274219B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311306252.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种芯片支架外观缺陷检测模板匹配与定位方法和装置是由孙立;王慧琼;宋明黎设计研发完成，并于2023-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片支架外观缺陷检测模板匹配与定位方法和装置在说明书摘要公布了：一种芯片支架外观缺陷检测模板匹配与定位方法和装置，其方法包括：1对芯片支架模板定义图像，定位产品边缘并对图像进行2D欧几里得变换得到矫正图像；2对模板定义矫正图像，构建模板组并提取模板组1D指纹；3对芯片支架检测目标图像，定位产品边缘并对图像进行2D欧几里得变换得到目标矫正对齐图像；4对目标矫正对齐图像，提取目标1D指纹；5将模板组1D指纹与目标1D指纹进行匹配，得到模板组偏移量；6根据模板组偏移量和模板组中模板信息，确定目标矫正对齐图像中匹配的模板信息。本发明实现准确、高效的芯片支架外观检测模板匹配与定位。

本发明授权一种芯片支架外观缺陷检测模板匹配与定位方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片支架外观缺陷检测模板匹配与定位方法，包括下列步骤： 步骤S1：对芯片支架模板定义图像，定位产品边缘并对图像进行2D欧几里得变换得到矫正图像； 步骤S2：对模板定义矫正图像，构建模板组并提取模板组1D指纹；具体包括： 步骤S2.1：对模板定义矫正图像进行1D自匹配，确定产品单元图像尺寸和重复模式； 步骤S2.2：根据产品单元图像尺寸和重复模式，从模板定义矫正图像提取模板图像，按照产品单元重复模式拼接模板图像构成模板组； 步骤S2.3：对拼接的模板组图像进行归约，得到模板组1D指纹； 所述步骤S2.1中的确定产品单元图像尺寸的方法为，将模 板定义矫正图像沿产品定位边缘方向进行平移滑动并与原图重叠的地方进行比较和计算相似度构造平移相似度向量，找出相似度向量中超过一定相似度阈值的极大值点，根据相邻2个极大值 点的平均距离作确定产品单元图像尺寸，所述步骤S2.1中的确定产品单元重复模式的方法为，按照产品单元图像尺寸从模板定义矫正图像中沿产品定位边缘方向截取2个相邻的产品局部图 像，比较2个产品局部图像，若没有显著差异则产品单元有1 类且重复模式为AAAA，否则产品单元有2类且重复模式为ABAB,所述步骤S2.2中的根据产品单元图像尺寸和重复模式，从模板定义矫正图像提取模板图像的方法为，若产品单元重复模式为AAAA，则从模板定义矫正图像合适位置确定1个产品单元矩形框，根据扩大的矩形框截取1个模板图像；若产品单元重 复模式为ABAB，则从模板定义矫正图像合适位置确定2个相邻的产品单元矩形框，再保持中心位置不变将产品单元矩形框尺寸适当扩大，最后根据扩大的矩形框截取2个模板图像； 步骤S3：对芯片支架检测目标图像，定位产品边缘并对图像进行2D欧几里得变换得到目标矫正对齐图像； 步骤S4：对目标矫正对齐图像，提取目标1D指纹，包括提取1D指纹的方式为：将图像按定位边缘的垂直方向归约，计算各 行或者各列像素的像素值平均值，将像素值平均值向量作为1D 指纹； 步骤S5：将模板组1D指纹与目标1D指纹进行匹配，得到模板组偏移量； 步骤S6：根据模板组偏移量和模板组中模板信息，确定目标矫正对齐图像中匹配的模板信息。

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