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龙图腾网获悉上海艾普强粒子设备有限公司申请的专利一种测量质子束流能量分布的装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117310783B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311485774.3，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权一种测量质子束流能量分布的装置和方法是由李乾楠;李永江;杨凡;马晓颖;张潇设计研发完成，并于2023-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量质子束流能量分布的装置和方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种测量质子束流能量分布的装置和方法，涉及质子束检测技术领域，该装置包括：偏转磁铁用于控制质子束流的偏转方向；第一单狭缝设置于偏转磁铁的出口端，用于使预设宽度内的束流通过；交流电流传感器ACCT设置于第一单狭缝的出口端，用于测量通过第一单狭缝的束流的流强；控制器与第一单狭缝连接，用于控制第一单狭缝沿着目标方向移动，每次移动的距离为预设宽度；处理器分别与偏转磁铁、控制器和ACCT连接，用于获取偏转磁铁的磁感应强度、控制器的各个控制指令和ACCT测量的各个流强，以及根据磁感应强度、第一单狭缝的各个位置信息和各个流强，获得质子束流的能量分布。本申请具有准确地测量质子束流能量分布的效果。

本发明授权一种测量质子束流能量分布的装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种测量质子束流能量分布的装置，其特征在于，包括： 偏转磁铁，用于：控制质子束流的偏转方向； 第一单狭缝，设置于所述偏转磁铁的出口端，用于：使预设宽度内的束流通过； 交流电流传感器ACCT，设置于所述第一单狭缝的出口端，用于：测量通过所述第一单狭缝的束流的流强； 控制器，与所述第一单狭缝连接，用于：控制所述第一单狭缝沿着目标方向移动，每次移动的距离为所述预设宽度； 处理器，分别与所述偏转磁铁、所述控制器和所述ACCT连接，用于：获取所述偏转磁铁的磁感应强度、所述控制器的各个控制指令和所述ACCT测量的各个流强，以及根据所述磁感应强度、所述第一单狭缝的各个位置信息和所述各个流强，获得质子束流的能量分布；所述第一单狭缝的各个位置信息是根据所述各个控制指令确定的； 所述装置还包括： 束流截面荧光靶相机，设置于所述ACCT的出口端，用于：获取通过所述第一单狭缝的束流的剖面图； 所述处理器，与所述束流截面荧光靶相机连接，还用于：获取所述剖面图，滤除不在所述剖面图中的数据； 所述装置还包括： 第二单狭缝，设置于所述偏转磁铁的入口端，用于：使中心能量附近的束流通过； 所述装置还包括第一步进电机； 所述控制器，与所述第一步进电机连接，用于：控制所述第一步进电机沿着所述目标方向移动，每次移动的距离为所述预设宽度； 所述第一步进电机，与所述第一单狭缝连接，用于：带动所述第一单狭缝沿着所述目标方向移动，每次移动的距离为所述预设宽度。

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