华南理工大学龚湘君获国家专利权
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龙图腾网获悉华南理工大学申请的专利基于局部重建的微粒三维定位方法、系统、装置及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118776482B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410755373.3，技术领域涉及：G06T7/70；该发明授权基于局部重建的微粒三维定位方法、系统、装置及介质是由龚湘君;张广照;何炳恩设计研发完成，并于2024-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于局部重建的微粒三维定位方法、系统、装置及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了基于局部重建的微粒三维定位方法、系统、装置及介质，属于三维成像测量领域。所述方法包括：获取包含复数微粒样品的实时干涉图像；利用数层平面光强的重建和叠加以增强二维特征，进行样品的二维定位；根据二维定位进行局部干涉图切割和三维重建以计算轴向特征，进而获取相应位置的纵向坐标；根据时空连续性分析连续获得的干涉图像中的三维坐标得到连续三维轨迹。本发明使用干涉光学成像方法记录视野中的三维信息，能实现复数样品的三维连续追踪，具有计算快速、定位精度高及鲁棒性好等特点，有利于相关技术的实际应用推广。
本发明授权基于局部重建的微粒三维定位方法、系统、装置及介质在权利要求书中公布了：1.一种基于局部重建的微粒快速三维定位方法，其特征在于，包括以下步骤： 使用干涉光学成像方法记录视野中包含多个微粒样品的干涉图像； 评估微粒样品所在的高度范围，在所述高度范围内进行光场重建，获得数层二维重建平面光场以反映该高度范围内的空间光场分布情况，其中相邻平面的重建距离之差相等，且均匀分布于待观测范围内； 将各层重建平面光场强度的数值进行光强叠加，并基于得到的叠加结果获得微粒样品的二维投影坐标； 以所述微粒样品的二维投影坐标为中心，从原始干涉图像中裁剪出包含微粒样品主要信息的局部干涉图，并根据局部干涉图重建二维投影坐标位置在z方向上的光强变化曲线； 对z方向上的光强变化曲线进行特征提取，获得二维投影坐标所在处的z向坐标，结合微粒样品的二维投影坐标确定微粒样品的三维坐标； 根据时空连续性和三维坐标点的分布获得视野中多个微粒的三维轨迹。
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