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龙图腾网获悉深圳市华汉伟业科技有限公司申请的专利一种三维测量设备及增加投影亮度均匀性的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119289898B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411228030.8，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种三维测量设备及增加投影亮度均匀性的方法是由魏宇明;杨洋;黄涛;黄淦;翟爱亭设计研发完成，并于2024-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种三维测量设备及增加投影亮度均匀性的方法在说明书摘要公布了：一种三维测量设备及增加投影亮度均匀性的方法，获取投影装置的投影几何参数；根据所得投影几何参数计算待投影图像的每个像素点的亮度补偿系数；根据待投影图像的每个像素点的亮度补偿系数对待投影图像进行亮度补偿，得到亮度补偿后的待投影图像；将亮度补偿后的待投影图像进行投影。通过对待投影图像进行亮度补偿，最终投射到待检测物体上的架构光的亮度更加均匀，一方面可以有效地降低光源自身衰减因素所导致的灰度差的影响，使最终得到的测量图像中的灰度变化可以更加真实地反映待检测物体自身高度的变化；另一方面可以降低高反光区域与其他区域的灰度差，从而得到更加可靠的三维测量结果，本方法更加简单可靠。

本发明授权一种三维测量设备及增加投影亮度均匀性的方法在权利要求书中公布了：1.一种三维测量设备，其特征在于，包括： 一个或多个投影装置，所述投影装置用于向待检测物体投射包含预设图案的待投影图像；所述投影装置包括矩阵排列的多个微镜，每个微镜用于投射所述待投影图像上的一个像素点； 图像拍摄部件，用于对投射有所述预设图案的所述待检测物体进行拍摄，得到测量图像； 图像处理单元，用于对所述测量图像进行处理得到所述待检测物体的三维信息；以及， 控制器，用于： 获取所述投影装置的投影几何参数； 根据所述投影装置的投影几何参数计算待投影图像的每个像素点的亮度补偿系数；其中，对于所述待投影图像中的任意一个像素点：根据所述投影装置的投影几何参数得到所述像素点对应投影视野区域的四个角点，根据所述四个角点的坐标以及所述像素点对应微镜的高度得到所述投影视野区域的理论亮度；将所得理论亮度的倒数作为所述像素点的增益系数，获取尺度变换系数，根据尺度变换系数对所得增益系数进行归一化，将归一化的结果作为所述像素点的亮度补偿系数；根据待投影图像的每个像素点的亮度补偿系数对所述待投影图像进行亮度补偿，得到亮度补偿后的所述待投影图像； 控制所述投影装置将亮度补偿后的所述待投影图像进行投影。

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