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龙图腾网获悉上海交通大学;上海航天设备制造总厂有限公司申请的专利基于结构光扫描和电磁超声的大型薄壁件测量方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119618104B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411830141.6，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权基于结构光扫描和电磁超声的大型薄壁件测量方法和系统是由毕庆贞;冯一帆;谈敏;任斐;孙立凡;刘通设计研发完成，并于2024-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于结构光扫描和电磁超声的大型薄壁件测量方法和系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于结构光扫描和电磁超声的大型薄壁件测量方法和系统，包括：步骤1：将结构光相机与电磁超声测厚模块进行集成；步骤2：在测量前进行结构光相机与电磁超声测厚模块的同步与标定；步骤3：以壁厚数据和点云数据为输入，进行数据预处理与数据融合，输出高精度的融合后点云；步骤4：根据不同测量工件与测量场景设计控制单元的功能；步骤5：将结果呈现在用户界面并提供相应的交互功能。本发明结合了结构光相机与电磁超声测厚技术，实现了对大型薄壁件的高精度三维重建，能够同时获取外部点云信息和内部壁厚数据，显著提高了测量的全面性和准确性，使得产品质量评估更为可靠。

本发明授权基于结构光扫描和电磁超声的大型薄壁件测量方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种基于结构光扫描和电磁超声的大型薄壁件测量方法，其特征在于，包括： 步骤1：将结构光相机与电磁超声测厚模块进行集成； 步骤2：在测量前进行结构光相机与电磁超声测厚模块的同步与标定； 步骤3：以壁厚数据和点云数据为输入，进行数据预处理与数据融合，输出高精度的融合后点云； 步骤4：根据不同测量工件与测量场景设计控制单元的功能； 步骤5：将结果呈现在用户界面并提供相应的交互功能； 所述步骤3包括：采用点云数据处理算法进行去噪与分割，对壁厚数据进行滤波处理以减少误差项；使用标定与同步技术实现两种测量数据的精确配准；将壁厚数据与点云数据进行数据融合，得到最终的融合后点云； 在数据融合过程中，根据点云的采样区间与要求精度规划测厚路径与采样频率f，以x坐标为基准进行z轴方向扫描，单次扫描为同一个x坐标机械臂以扫描速度v沿z轴进行扫描，根据扫描速度v、采样频率f与采样点序号n计算出对应点zi的z轴坐标： zi＝z0+v*nf 其中，z0为对应点的初始坐标，由此得到测厚点信息x,zi,ti，计算xi,yi,zi的实际对应点xi,yi-ti,zi，根据所需精度进行虚拟点的生成，虚拟点的测厚数据在电磁超声测厚模块半径范围内一致，将计算的实际对应点与生成的虚拟对应点作为新的点云数据增加到原始的点云数据集中，形成融合后的带有厚度信息的点云数据集Qi＝xi,yi,zi,i∈[1,k+|]，其中，I为计算的实际对应点与生成的虚拟对应点的点数总和。

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