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西安空间无线电技术研究所高阳获国家专利权

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龙图腾网获悉西安空间无线电技术研究所申请的专利一种针对BP成像的SAR图像二维校正方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119716850B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411826964.1,技术领域涉及:G01S13/90;该发明授权一种针对BP成像的SAR图像二维校正方法是由高阳;谭小敏;党红杏;雷苏力;杨娟娟;向天舜;袁铭泽设计研发完成,并于2024-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

一种针对BP成像的SAR图像二维校正方法在说明书摘要公布了:本发明的针对BP成像的SAR图像二维校正方法,通过计算各个像素点在对应脉冲发射时刻下的距离和方位方向图下的距离、方位角,获得天线方向图二维增益。进而,计算SAR图像中该像素经过合成孔径时间积累后的天线增益,从而获得了在距离方位耦合增益调制下的像素增益值,并通过图像像素遍历完成整个图像的增益校正,从而解决了复杂灵活观测几何下,距离方位天线方向图影响无法分离并进行有效校正问题,适用于SAR图像的辐射校正处理。

本发明授权一种针对BP成像的SAR图像二维校正方法在权利要求书中公布了:1.一种针对BP成像的SAR图像二维校正方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1,确定雷达脉冲发射时刻,在BP成像的SAR图像中任选一个像素点; 步骤2,在雷达脉冲发射时刻下,计算本次所选像素点在目标天线距离向方向图下的距离角; 步骤3,在雷达脉冲发射时刻下,计算本次所选像素点在目标天线方位向方向图下的方位角; 步骤4,根据步骤2和步骤3所得数据,在雷达脉冲发射时刻下,计算本次所选像素点对应的天线双程二维增益值; 步骤5,根据步骤4所得数据,计算SAR图像中本次所选像素点的目标天线的二维方向图增益值; 步骤6,对步骤5所得数据进行校正; 步骤6中,使用下式对本次所选像素点进行二维方向上的校正: 其中,Ip_cxrg,yaz表示本次所选像素点表示天线二维方向图增益校正后的像素值; Ipxrg,yaz表示本次所选像素点的像素值; xrg表示本次所选像素点在SAR图像中的距离位置; yaz表示像素点在SAR图像中的方位位置; gr0表示目标天线距离角为0时,距离向方向图的单程增益; ga0表示天线方位角为0时,方位向方向图的单程增益; 步骤7,在BP成像的SAR图像中任选一个未经过校正的像素点,重复步骤2-6,直至所有像素点均被遍历,完成对BP成像的SAR图像的二维校正。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人西安空间无线电技术研究所,其通讯地址为:710000 陕西省西安市航天基地东长安街504号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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