中国科学院上海光学精密机械研究所杨晨铭获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种双模态光学相干弹性成像装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119757283B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411939371.6，技术领域涉及：G01N21/45；该发明授权一种双模态光学相干弹性成像装置及方法是由杨晨铭;李中梁;南楠;刘腾;罗耀丽设计研发完成，并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种双模态光学相干弹性成像装置及方法在说明书摘要公布了：一种双模态光学相干弹性成像装置及方法，装置包括：激励单元，用于产生声场；成像单元，为光学相干层析成像系统，用于检测待测样品的振动，即应变响应和弹性波响应；耦合单元，具有中间通孔的声反射面，用于反射激励单元产生的声场，使得由成像单元发出的探测光束与由激励单元发出的声场之间的耦合照射在待测样品同侧。本发明利用多光束光学相干层析成像系统发射两束或多束探测光束进行双模态弹性成像，可以同时获取待测样品的高分辨率应变信息和定量弹性信息，解决了现有技术无法同时进行应变成像和弹性波成像的问题。
本发明授权一种双模态光学相干弹性成像装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种双模态光学相干弹性成像装置，其特征在于，包括： 激励单元，用于产生声场； 成像单元，为光学相干层析成像系统，用于检测待测样品的振动，即应变响应和弹性波响应；光学相干层析成像系统发出两束或多束探测光信号，其中，一束或多束探测光通过耦合单元的中间通孔照射待测样品，剩下的探测光通过耦合单元边缘以外的区域照射待测样品；不同束的探测光具有不同的光程，在光学相干层析图像的不同深度区域可以分别获得不同探测光采集的数据；通过耦合单元中间通孔的探测光采集的数据用于测量样品的应变信息，不通过耦合单元中间通孔的探测光采集的数据用于测量样品的弹性波信息； 耦合单元，具有中间通孔的声反射面，用于反射所述激励单元产生的声场，使得由成像单元发出的探测光束与由激励单元发出的声场之间的耦合；其中，所述探测光束通过耦合单元的中间通孔和耦合单元边缘以外的区域照射待测样品，所述激励单元发出的声场经过耦合单元的声反射面反射后，沿探测光束同一方向或相近方向传输到所述待测样品中，形成声辐射力场。
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