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龙图腾网获悉中国科学院空天信息创新研究院申请的专利一种测量液膜的厚度分布和折射率色散曲线的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119779170B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411760545.2，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种测量液膜的厚度分布和折射率色散曲线的方法是由祁志美;唐弘毅;张丽超;李崇珍设计研发完成，并于2024-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量液膜的厚度分布和折射率色散曲线的方法在说明书摘要公布了：一种测量液膜的厚度分布与折射率色散曲线的方法，包括：将液膜覆盖在SPR传感模块上，将宽光谱线偏振平行光束照射至SPR传感模块上并发生全反射得到反射光，宽光谱线偏振平行光束通过全反射在SPR传感模块上激励SPR模式和或PWR模式；反射光携带液膜的信息被高光谱成像仪接收得到高光谱图像，高光谱图像中的像素与液膜上的位置一一对应；根据高光谱图像，确定与目标像素对应的目标位置处的至少三个实测共振波长；根据目标位置处的至少三个实测共振波长得到目标位置处的液膜厚度和液膜的折射率色散曲线；根据目标位置处的液膜的折射率色散曲线以及每个其它位置处的实测共振波长得到其它位置处的液膜厚度；根据液膜在所有位置的厚度得到液膜的厚度分布。

本发明授权一种测量液膜的厚度分布和折射率色散曲线的方法在权利要求书中公布了：1.一种测量液膜的厚度分布和折射率色散曲线的方法，所述方法基于高光谱SPR成像装置实现，所述高光谱SPR成像装置包括SPR传感模块，所述SPR传感模块包括基底和位于所述基底上的金属薄膜，所述液膜上还形成有覆盖层；所述方法包括： 将液膜覆盖在SPR传感模块上； 将宽光谱线偏振平行光束照射至所述SPR传感模块上并发生全反射，得到反射光，所述宽光谱线偏振平行光束通过全反射在SPR传感模块上激励SPR模式和或PWR模式，所述反射光通过所述SPR模式和或PWR模式与所述液膜的相互作用携带所述液膜的信息；其中，所述反射光被高光谱成像仪接收，得到高光谱图像，所述高光谱图像中的像素与所述液膜上的位置一一对应； 根据所述高光谱图像，确定与目标像素对应的目标位置处的至少三个实测共振波长，所述目标位置处的实测共振波长为SPR模式和或PWR模式的共振波长； 将所述基底的折射率、所述金属薄膜的折射率和厚度、以及所述液膜上方覆盖层的折射率带入四层结构的菲涅尔反射公式中，对所述液膜在所述目标位置处的至少三个实测共振波长进行仿真拟合，得到所述目标位置处的每个实测共振波长下的第一关系曲线，其中，所述第一关系曲线为所述液膜折射率与所述目标位置处的液膜厚度的关系曲线，至少三个实测共振波长对应至少三条所述第一关系曲线； 根据所述液膜在所述目标位置处的至少三条第一关系曲线，得到所述目标位置处的液膜厚度以及所述液膜的折射率色散曲线； 根据所述液膜的折射率色散曲线以及每个其它位置处的实测共振波长得到所述其它位置处的液膜厚度，所述其它位置为所述液膜上除了所述目标位置以外的任一位置； 根据所述液膜在所有位置的液膜厚度得到所述液膜的厚度分布。

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