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龙图腾网获悉华南理工大学;广东长盈精密技术有限公司申请的专利微小缺陷的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119831930B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411725309.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权微小缺陷的检测方法是由刘逸锴;邹晓洪;万珍平;甘万辉;杨洪春;袁美华设计研发完成，并于2024-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本微小缺陷的检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于智能制造技术领域，公开了一种微小缺陷的检测方法，该方法包括：获取标准工件的图片，找到标准工件的微孔位置，截取微孔图片进行二值化处理，生成标准微孔二值化模板；获取待检微孔工件的图片，进行二值化处理，生成待检微孔二值化图片；将待检微孔二值化图片分为若干个图像块，裁剪掉待检微孔二值化图片的不必要信息，使用神经网络模型对裁剪后的图像进行预测，得到缺陷类别和位置信息；根据缺陷类别和位置信息，识别待检工件是否满足生产标准。本发明克服了微小缺陷检测准确率与检测速度难以兼顾的问题。

本发明授权微小缺陷的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种微小缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1获取标准工件的图片，找到标准工件的微孔位置，截取微孔图片记为图片M； S2将图片M进行二值化处理，生成标准微孔二值化模板，记为模板M′，并进一步计算模板M′的像素数值的平均值PM′； S3获取待检微孔工件的图片，记为图片A； S4将图片A进行二值化处理，生成待检微孔二值化图片A′； S5将图片A′分为若干个图像块A′i,j，并进一步计算每一个图像块A′i,j的像素数值的平均值PA′i,j；其中i,j表示第i行、第j列的图像块； S6将获得的PA′i,j分别与PM′相减，即SA′n＝PA′i,j-PM′，找到SA′n中数值最小的三个图像块，记为SA′1、SA′2、SA′3； S7将找到的三个图像块SA′1、SA′2、SA′3按逐个像素值相减的方式，与所述标准微孔二值化模板M′相减并求和，即Sn＝sumSA′n-M′，将计算结果记为S1、S2、S3； S8选取S1、S2、S3中Sn值最小的计算块位置信息作为图片A的裁剪依据，裁剪掉所述裁剪依据的周围所有像素，并将裁剪后的图像分辨率扩大； S9使用神经网络模型对裁剪扩大后的图像进行预测，得到缺陷类别和位置信息； S10根据缺陷类别和位置信息，识别待检工件是否满足生产标准。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华南理工大学;广东长盈精密技术有限公司，其通讯地址为：510000 广东省广州市天河区华南理工大学五山校区(广州市天河区五山路381号)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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