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龙图腾网获悉南京大学;合肥国家实验室申请的专利面向阵列器件连续测试的系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936623B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510104344.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权面向阵列器件连续测试的系统、电子设备及存储介质是由徐尉宗;苗涛;陆海;任芳芳;周东;周峰设计研发完成，并于2025-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本面向阵列器件连续测试的系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种面向阵列器件连续测试的系统、电子设备及存储介质，包括第一上位机和探针台；第一上位机发送扫描路径至探针台，控制探针台对待测阵列器件进行扫描测试：探针台的托盘按照扫描路径设定的路径点进行移动，到达指定位置后，上移托盘使探针和待测阵列器件的电极连接，通过电子测试设备按照第二上位机发送的测试指令对待测阵列器件进行测试，重复上述过程直到待测阵列器件的所有电极测试完毕。可以对任意阵列器件实现任意测试参数的扫描测试，进而结合检测位置坐标和该位置的测试结果进行数据可视化，为不同形状阵列器件提供全面且有效的测试数据。

本发明授权面向阵列器件连续测试的系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种面向阵列器件连续测试的系统，其特征在于：包括第一上位机和探针台； 所述第一上位机发送扫描路径至探针台，控制所述探针台对待测阵列器件进行扫描测试：所述探针台的托盘按照所述扫描路径设定的路径点进行移动，到达指定位置后，上移托盘使探针和待测阵列器件的电极连接，通过电子测试设备按照第二上位机发送的测试指令对待测阵列器件进行测试，重复上述过程直到待测阵列器件的所有电极测试完毕； 所述第一上位机和第二上位机通过控制日志的方式实现通讯； 所述探针台对待测阵列器件进行扫描测试时，从所述第一上位机的库中导入或新建二维扫描路径；所述第一上位机的托盘控制单元根据扫描路径生成控制指令集并向所述探针台发出移动指令；所述探针台控制托盘完成指令后向所述第一上位机反馈位置信息，所述第一上位机将位置信息写入控制日志；所述第二上位机的设备控制单元检测到日志更新后，根据设置好的测试参数控制所述电子测试设备进行测试；检测结果一方面结合位置信息完成数据汇总，另一方面反馈给控制日志“完成”信号以进行下一位置的测试；所述第一上位机的托盘控制单元检测到“完成”信号后发出下一道指令，进入下一个位置即下一个器件的测试；如此往复直至完成控制指令集中所有指令，即是完成预设阵列的扫描测试。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京大学;合肥国家实验室，其通讯地址为：210023 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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