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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利印制电路板的缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119941622B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411771283.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权印制电路板的缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质是由郭德铭;张龙;袭奇;王婧;谢承旺设计研发完成，并于2024-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本印制电路板的缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及缺陷检测领域，特别涉及一种印制电路板的缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质，对构建的印制电路板图像的多尺度骨干特征图进行特征融合上采样以及卷积连接特征融合，降低了计算负担，提高了小目标的特征提取的准确性以及效率，用以进行印制电路板的缺陷检测，实现了对印制电路板图像的全面、充分的缺陷检测，提高了印制电路板缺陷检测的精准性以及效率性。

本发明授权印制电路板的缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种印制电路板的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 获得待检测的印制电路板图像以及预设的缺陷检测模型，其中，所述缺陷检测模型包括骨干网络、颈部网络以及检测网络，所述颈部网络包括特征融合上采样模块以及卷积连接特征融合模块；所述卷积连接特征融合模块包括若干个依次连接的卷积连接特征融合子模块，所述卷积连接特征融合子模块包括依次连接的卷积单元、连接单元、线性时间序列建模单元以及CBAM注意力机制单元； 将所述待检测的印制电路板图像输入至所述骨干网络中进行特征提取，获得若干个尺度的骨干特征图； 将若干个尺度的骨干特征图输入至所述颈部网络中的特征融合上采样模块中进行特征融合上采样，获得特征融合上采样图； 将所述特征融合上采样图分别输入至所述卷积连接特征融合模块中，将所述特征融合上采样图作为首个卷积连接特征融合子模块的第三输入特征图，将所述第三输入特征图经过卷积单元进行卷积处理，获得卷积处理后的第三输入特征图；将所述第三输入特征图上一个尺度的骨干特征图作为待连接图，将卷积处理后的第三输入特征图以及所述待连接图经过连接单元进行特征连接，获得第二特征连接图； 将所述第二特征连接图经过所述线性时间序列建模单元进行特征建模，获得线性时间序列建模图；将所述线性时间序列建模图经过所述CBAM注意力机制单元进行注意力提取，获得第二注意力特征图，作为首个卷积连接特征融合子模块的第三输出特征图； 将首个卷积连接特征融合子模块的第三输出特征图作为下一个卷积连接特征融合子模块的第三输入特征图以及待连接图，重复进行卷积连接特征融合，直到获得最后一个卷积连接特征融合子模块的线性时间序列建模单元输出的线性时间序列建模图，将所述线性时间序列建模图作为卷积连接特征融合图，获得若干个尺度的卷积连接特征融合图； 将若干个尺度的所述卷积连接特征融合图输入至所述检测网络进行目标检测，获得待检测的印制电路板图像的缺陷检测结果。

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