河南省科学院半导体研究所周铁获国家专利权
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龙图腾网获悉河南省科学院半导体研究所申请的专利一种SOT驱动磁化翻转中临界电流密度的降低方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120072144B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510136683.1,技术领域涉及:G16C60/00;该发明授权一种SOT驱动磁化翻转中临界电流密度的降低方法是由周铁;管志强设计研发完成,并于2025-02-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种SOT驱动磁化翻转中临界电流密度的降低方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种SOT驱动磁化翻转中临界电流密度的降低方法,涉及自旋电子学技术领域,包括以下步骤:建立磁性薄膜的结构模型,磁性薄膜为双层结构,在磁性层沿x轴方向对称设有两个缺陷区域,缺陷区域的物理参数值小于磁性层的物理参数值;磁性层与缺陷区域的交界处为畴壁;对结构模型进行微磁学模拟,得到磁畴和畴壁演化过程,基于演化过程确定SOT驱动磁化翻转中的临界电流密度,其中,临界电流密度为驱动畴壁运动的最小电流密度,该临界电流密度产生的SOT有效场为使畴壁从缺陷区域退钉扎所需的最小SOT有效场。本发明可以与现有的微纳电子工艺和材料体系进行兼容。
本发明授权一种SOT驱动磁化翻转中临界电流密度的降低方法在权利要求书中公布了:1.一种SOT驱动磁化翻转中临界电流密度的降低方法,其特征在于,包括以下步骤: 建立磁性薄膜的结构模型,所述磁性薄膜为双层结构,其中,下层为用于提供自旋轨道转矩SOT的重金属层,上层为用于产生磁化翻转的磁性层;在磁性层沿x轴方向对称设有两个缺陷区域,缺陷区域的物理参数值小于磁性层的物理参数值;磁性层与缺陷区域的交界处为畴壁;所述磁性层在-面的截面为楔形结构,高沿轴方向倾斜;所述磁性层的材料为CoPt,重金属层的材料为Pt;所述结构模型的长为1024nm,宽为128nm,每个缺陷区域的面积为8nm×8nm,缺陷位置距离中心位置64nm; 对结构模型进行微磁学模拟,得到磁畴和畴壁演化过程,基于演化过程确定SOT驱动磁化翻转中的临界电流密度,其中,临界电流密度为驱动畴壁运动的最小电流密度,该临界电流密度产生的SOT有效场为使畴壁从缺陷区域退钉扎所需的最小SOT有效场。
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