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深圳市瑞凯鸿辰科技有限公司叶柯君获国家专利权

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龙图腾网获悉深圳市瑞凯鸿辰科技有限公司申请的专利芯片仿真模型的测试方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120124544B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510151261.1,技术领域涉及:G06F30/3308;该发明授权芯片仿真模型的测试方法及系统是由叶柯君设计研发完成,并于2025-02-11向国家知识产权局提交的专利申请。

芯片仿真模型的测试方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片仿真模型的测试方法及系统。所述方法包括以下步骤:采集目标芯片仿真模型并进行时序补偿以生成抖动补偿数据,随后进行眼图重构以获取波形眼图数据,对波形数据进行幅度归一化和时序相位校正,得到净化对齐数据,通过正交映射处理和模态投影分析生成主模态数据,构建核空间数据并进行流形认知聚合以生成测试覆盖特征,对这些特征进行边界解析和密度分布分析,得到聚类边界数据,最后调优边界精度并执行自适应测试序列,生成测试用例结果。本发明实现了更高效的芯片仿真模型测试方法。

本发明授权芯片仿真模型的测试方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种芯片仿真模型的测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤S1:采集目标芯片仿真模型;对目标芯片仿真模型进行时序完整补偿,以生成抖动补偿数据;对抖动补偿数据进行眼图重构,得到波形眼图数据; 步骤S2:对波形眼图数据进行波形幅度归一化,生成归一化数据;对归一化数据进行时序相位校正,以生成净化对齐数据; 步骤S3:对净化对齐数据进行正交映射处理生成正交基数据;基于正交基数据进行模态投影分析,生成主模态数据; 步骤S4:对主模态数据进行向量映射驱动构建,生成核空间数据;对核空间数据进行流形认知智能聚合,生成测试覆盖特征; 步骤S5:对测试覆盖特征进行边界驱动解析,生成密度分布数据;基于密度分布数据进行稳定特征精准标定,以得到聚类边界数据; 步骤S6:对聚类边界数据进行边界精度调优,生成补偿结果数据;基于补偿结果数据对目标芯片仿真模型进行自适应测试序列执行,以生成测试用例结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市瑞凯鸿辰科技有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市龙华区大浪街道水围社区华兴路153号3层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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