上海华岭集成电路技术股份有限公司;上海张江芯享测半导体科技有限公司刘龙超获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华岭集成电路技术股份有限公司;上海张江芯享测半导体科技有限公司申请的专利一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120559330B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511062119.6，技术领域涉及：G01R27/28；该发明授权一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统是由刘龙超;周军;李小媛设计研发完成，并于2025-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统，涉及射频微波测试技术领域。该方法步骤如下：通过上位机控制数字通道板卡驱动射频开关，扩展矢量网络分析仪射频端口，使其数量与待测滤波器端口匹配；根据滤波器端口数量及测试需求划分测试通道，为每个通道配置分段参数表和校准参数，其中分段参数表含各子段扫描参数，且子段扫描点数依通带、阻带特性调整；矢量网络分析仪基于上述参数对各通道分段扫描；上位机从矢量网络分析仪获取S参数曲线，完成测试。该方法可提升多频段滤波器S参数测试效率与精度，适用于量产测试。
本发明授权一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 通过上位机控制数字通道板卡驱动射频开关，以扩展矢量网络分析仪的射频端口，使得所述射频端口数量与待测滤波器的端口数量相匹配； 根据所述待测滤波器的端口数量及测试需求划分对应的测试通道数量，为所述矢量网络分析仪的每个测试通道配置对应的分段参数表和校准参数，其中，所述分段参数表包括对各子段的扫描参数配置，且各子段的扫描点数根据其为通带和阻带的特性进行调整； 所述矢量网络分析仪基于各测试通道的所述分段参数表和校准参数，对各测试通道进行分段扫描； 所述上位机从所述矢量网络分析仪获取分段扫描得到的S参数曲线，完成多频段滤波器S参数测试。
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