合肥康芯威存储技术有限公司陈四平获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储器的测试方法及测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120612999B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511121016.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储器的测试方法及测试系统是由陈四平;许展榕;石庭玉设计研发完成，并于2025-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储器的测试方法及测试系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储器的测试方法及测试系统，测试方法包括：按照预设顺序，依次调整存储器的工作模式；所述工作模式包括SDR模式、DDR模式、HS200模式、HS400模式；在每一种工作模式下，对所述存储器执行数据写测试，以获取存储器在各种工作模式下的写操作参数及其对应的时序参数。本发明在每种工作模式下，测试出存储器满足协议标准规定的时序参数及其对应的写操作参数，从而可使得存储器在接收主机的数据信号时不会出现接收错误。
本发明授权一种存储器的测试方法及测试系统在权利要求书中公布了：1.一种存储器的测试方法，请特征在于，包括： 按照预设顺序，依次调整存储器的工作模式；所述工作模式包括SDR模式、DDR模式、HS200模式、HS400模式； 在每一种工作模式下，对所述存储器执行数据写测试，以获取存储器在各种工作模式下的写操作参数及其对应的时序参数； 其中，在每种工作模式下，对所述存储器执行数据写测试包括： 根据当前的工作模式下的初始写操作参数对所述存储器执行数据写测试，并获取对应的初始时序参数，比较初始时序参数和预设的时序阈值： 当初始时序参数小于时序阈值时，调整所述存储器的写操作参数，继续执行数据写测试，直至所述存储器根据调整后的写操作参数执行数据写测试的时序参数大于等于时序阈值为止，并将调整后的写操作参数及其对应的时序参数保存至闪存中； 当初始时序参数大于等于时序阈值时，将初始写操作参数和初始时序参数保存至闪存中。
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