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龙图腾网获悉中国科学院上海高等研究院申请的专利一种宽能区的原位X射线谱学表征系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120668701B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511172072.9，技术领域涉及：G01N23/087；该发明授权一种宽能区的原位X射线谱学表征系统是由宋飞;梁兆峰;马静远;梅丙宝;谢磊设计研发完成，并于2025-08-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种宽能区的原位X射线谱学表征系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种宽能区的原位X射线谱学表征系统，包括第一波荡器和第二波荡器，第一波荡器用于提供硬X射线光，形成硬X光束通过的第一光路，第二波荡器用于提供软X射线光，形成软X光束通过的第二光路；在第一光路上，沿硬X光束的传输方向依次设置有第一偏转聚焦装置和第一Si3N4膜窗；在第二光路上，沿软X光束的传输方向依次设置有第二偏转聚焦装置和第二Si3N4膜窗；在硬X光束经第一偏转聚焦装置偏转聚焦后穿过第一Si3N4膜窗的同时，软X光束经第二偏转聚焦装置转聚焦后穿过第二Si3N4膜窗，并共同照射至样品处，样品的下游设置有放大器，以对光电流信号进行放大，得到所述样品的原位表征信息。本发明能够实现超宽能量范围光子覆盖。

本发明授权一种宽能区的原位X射线谱学表征系统在权利要求书中公布了：1.一种宽能区的原位X射线谱学表征系统，其特征在于，包括第一波荡器和第二波荡器，所述第一波荡器用于提供硬X射线光，形成硬X光束通过的第一光路，所述第二波荡器用于提供软X射线光，形成软X光束通过的第二光路；在所述第一光路上，沿硬X光束的传输方向依次设置有第一偏转聚焦装置和第一Si3N4膜窗；在所述第二光路上，沿软X光束的传输方向依次设置有第二偏转聚焦装置和第二Si3N4膜窗； 在硬X光束经所述第一偏转聚焦装置偏转聚焦后穿过所述第一Si3N4膜窗的同时，软X光束经所述第二偏转聚焦装置转聚焦后穿过所述第二Si3N4膜窗，硬X光束和软X光束同时穿过对应的所述第一Si3N4膜窗、所述第二Si3N4膜窗后，共同照射至样品处，所述样品的下游设置有放大器，以对光电流信号进行放大，得到所述样品的原位表征信息； 第一Si3N4膜窗和第二Si3N4膜窗的一侧均为10-9mbar，另一侧均为100mbar；所述第一Si3N4膜窗和第二Si3N4膜窗的间距为58mm，所述第一Si3N4膜窗和第二Si3N4膜窗的直径为5mm，厚度为100nm，100nm厚度的Si3N4窗膜能够保证50%以上的软X光透过。

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