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中国人民解放军火箭军工程大学薛望祺获国家专利权

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龙图腾网获悉中国人民解放军火箭军工程大学申请的专利一种镀膜光学元件激光损伤主导模式判定与阈值预估方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120761407B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511249808.8,技术领域涉及:G01N21/95;该发明授权一种镀膜光学元件激光损伤主导模式判定与阈值预估方法是由薛望祺;张志利;吕玉伟;薛天旸;段辉;刘春桐设计研发完成,并于2025-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。

一种镀膜光学元件激光损伤主导模式判定与阈值预估方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种镀膜光学元件激光损伤主导模式判定与阈值预估方法,属于激光光学元件损伤评估技术领域。本发明的实现方法为:基于传输矩阵法或时域有限差分法计算薄膜光场分布;结合有限元分析预测薄膜与基底的温度及应力场;对比损伤阈值判定主导模式;并通过实验验证模型准确性。本发明通过分别构建薄膜电场‑热力耦合模型与基底热力分析模型,量化两者损伤贡献,结合小样本实验验证,旨在解决镀膜光学元件薄膜与基底损伤竞争机制复杂、损伤主导模式区分困难,以及传统实验方法效率低、成本高的问题。

本发明授权一种镀膜光学元件激光损伤主导模式判定与阈值预估方法在权利要求书中公布了:1.一种镀膜光学元件激光损伤主导模式判定与阈值预估方法,其特征在于:所述的方法包括: 分别对薄膜与基底损伤机制建模,明确激光体制、激光波长、激光功率能量、激光光斑大小、激光能量分布、激光辐照时间、入射角度激光参数,标定光学元件镀膜材料的消光系数、折射率和膜系结构参数,针对薄膜部分构建电场分布计算模型,采用时域有限差分法或传输矩阵法获得入射面膜层内部各层的光场强度分布; 所述光场强度分布计算完成后,进一步输入薄膜材料的弹性模量、泊松比、密度、热导率、热膨胀系数、比热容参数,利用有限元分析软件构建热力分析有限元模型,对薄膜多层结构的温度场和应力场进行模拟与分析; 基于得到的光场强度分布构建薄膜热力分析有限元模型,将激光参数与光场强度分布作为输入,获得入射面膜层的温度分布及应力分布,结合薄膜失效温度与强度极限预测薄膜损伤阈值; 结合实际膜系结构、前后表面薄膜透过率反射率特性和基底材料参数,对基底损伤进行热力有限元分析,获得基底的温度分布及应力分布,结合基底失效温度与强度极限预测基底损伤阈值; 将薄膜损伤阈值与基底损伤阈值进行比较,以阈值较低者为主导激光损伤模式,当阈值差异不大时判定为混合损伤模式。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国人民解放军火箭军工程大学,其通讯地址为:710025 陕西省西安市灞桥区洪庆街道同心路2号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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