芯潮流(珠海)科技有限公司陈佳毅获国家专利权
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龙图腾网获悉芯潮流(珠海)科技有限公司申请的专利一种面向互联芯片的时延测试方法、系统及程序产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120761832B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511285667.5,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种面向互联芯片的时延测试方法、系统及程序产品是由陈佳毅;陈伟设计研发完成,并于2025-09-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种面向互联芯片的时延测试方法、系统及程序产品在说明书摘要公布了:本发明提供一种面向互联芯片的时延测试方法、系统及程序产品,该方法包括:采集第一测试信号以得到原始信号;采集经过被测芯片的第二测试信号,得到延时信号;第一测试信号与第二测试信号为相关联的周期性二进制序列;周期性二进制序列的周期大于被测芯片的时延;从原始信号截取预设时间范围内的第一截取信号,以及从延时信号中截取预设时间范围内的第二截取信号;预设时间范围的时间长度不小于周期性二进制序列的周期;将第一截取信号或第二截取信号朝设定方向循环移位,记录第一截取信号与第二截取信号重合时对应的目标移位位数;根据目标移位位数确定被测芯片的时延。本发明可以提高芯片时延测试的准确性。
本发明授权一种面向互联芯片的时延测试方法、系统及程序产品在权利要求书中公布了:1.一种面向互联芯片的时延测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 采集第一测试信号以得到原始信号;采集经过被测芯片的第二测试信号,得到延时信号;所述第一测试信号与所述第二测试信号为相关联的周期性二进制序列;所述周期性二进制序列的周期大于所述被测芯片的时延; 从所述原始信号截取预设时间范围内的第一截取信号,以及从所述延时信号中截取所述预设时间范围内的第二截取信号;所述预设时间范围的时间长度不小于所述周期性二进制序列的周期; 将所述第一截取信号或所述第二截取信号朝设定方向循环移位,记录所述第一截取信号与所述第二截取信号重合时对应的目标移位位数; 根据所述目标移位位数确定所述被测芯片的时延。
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