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龙图腾网获悉圣邦微电子(北京)股份有限公司申请的专利用于数模转换芯片的测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114553225B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011333609.2，技术领域涉及：H03M1/10；该发明授权用于数模转换芯片的测试装置是由张恭铭;邴春秋设计研发完成，并于2020-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于数模转换芯片的测试装置在说明书摘要公布了：本发明涉及电路技术领域，提供了一种用于数模转换芯片的测试装置，利用处理单元提供的标准测试码，通过具有待测DA芯片的采样放大单元进行数模转换得到可表征任意两个相邻标准测试码转换后测试电压间差值的检测值；以及利用具有基准DA芯片的基准放大单元对标准测试码进行数模转换得到可表征前述两个相邻标准测试码转换后基准电压间差值的参考值；再通过比较单元根据该检测值与该参考值比较生成检测信号，利用处理单元根据一组前述检测信号计算或者获得待测DA芯片的一组静态参数向量，并根据该一组静态参数向量的变化量与预设误差范围的比较结果判断该待测DA芯片的数模转换功能是否正常。由此可有效缩短数模转换芯片的测试时间。

本发明授权用于数模转换芯片的测试装置在权利要求书中公布了：1.一种用于数模转换芯片的测试装置，包括： 处理单元，用于提供标准测试码集合中的第一标准测试码和第二标准测试码； 采样放大单元，用于接收所述第一标准测试码，并根据所述第一标准测试码进行数模转换处理，并输出转换后得到的检测值，该检测值表征任意两个相邻第一标准测试码转换后的两个测试电压之间的差值； 基准放大单元，用于接收所述第二标准测试码，并根据所述第二标准测试码进行数模转换处理，并输出转换后得到的参考值，该参考值表征前述两个相邻第一标准测试码转换后的两个基准电压之间的差值； 比较单元，输入端分别连接所述采样放大单元和所述基准放大单元，将所述检测值与所述参考值进行比较，生成检测信号， 其中，所述处理单元与所述比较单元的输出端连接，还用于根据一组所述检测信号计算或者获得待测数模转换芯片的一组静态参数向量，并根据该一组静态参数向量的变化量与预设误差范围的比较结果判断所述待测数模转换芯片的数模转换功能是否正常， 所述采样放大单元包括： 待测数模转换芯片，用于根据所述第一标准测试码进行数模转换处理，并输出转换后的测试电压，输出的每个测试电压均对应输入的一个第一标准测试码； 采样保持模块，用于保持并输出当前第一标准测试码对应的测试电压； 差分放大器，分别与所述待测数模转换芯片和所述采样保持模块连接，用于获取两个相邻第一标准测试码转换后的两个测试电压之间的差值，并进行放大处理，输出所述检测值。

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