华中科技大学昌毅获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利基于参数化多项式曲面的红外热辐射效应偏置场校正方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115601259B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211236259.7,技术领域涉及:G06T5/60;该发明授权基于参数化多项式曲面的红外热辐射效应偏置场校正方法是由昌毅;高妍;颜露新;曹舒宁设计研发完成,并于2022-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于参数化多项式曲面的红外热辐射效应偏置场校正方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于参数化多项式曲面的红外热辐射效应偏置场校正方法,属于图像处理技术领域,包括:红外热辐射效应退化机理建模,构建基于参数化多项式曲面拟合的热辐射效应偏置场退化模型;仿真训练数据集构建,其中包括成对的退化前后红外图像数据;知识引导的参数化多项式网络构建,包括第一、第二网络单元、偏置场图像重建单元及损失计算单元。将待校正的退化图像输入至训练好的红外热辐射效应偏置场校正模型中的第一网络单元,输出复原后的清晰红外图像。本发明利用多项式拟合偏置场的先验知识进行建模,并指导网络进行自适应校正,增加了网络的可解释性,从而有效提升了方法在实测场景中的泛化性能以及图像的成像质量。
本发明授权基于参数化多项式曲面的红外热辐射效应偏置场校正方法在权利要求书中公布了:1.一种基于参数化多项式曲面的红外热辐射效应偏置场校正方法,其特征在于,包括: 训练阶段:以退化图像为训练样本,以退化图像对应的清晰图像为标签,对红外热辐射效应偏置场校正模型进行训练;其中,所述红外热辐射效应偏置场校正模型包括:第一网络单元、第二网络单元、偏置场图像重建单元及损失计算单元; 所述第一网络单元用于预测所述退化图像中的清晰红外图像; 所述第二网络单元用于预测所述退化图像中的偏置场参数; 所述偏置场图像重建单元用于基于所述预测的偏置场参数,采用多项式曲面拟合得到预测的偏置场图像; 所述损失计算单元用于以最小化预测的清晰红外图像和输入的清晰红外图像的一致性损失为目标,以预测的清晰红外图像及预测的偏置场图像正则化先验信息为约束,计算训练损失,并反向调节所述第一网络单元和所述第二网络单元的参数以使损失收敛,使第一网络单元输出复原后的清晰红外图像; 应用阶段: 将待校正的退化图像输入至训练好的红外热辐射效应偏置场校正模型中的第一网络单元,输出复原后的清晰红外图像; 计算训练损失的损失函数为: 其中,和为正则化参数,表示预测的偏置场参数,R表示预测的清晰红外图像,下角标表示坐标;是偏置场阶数,是热辐射效应偏置场图像坐标。
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