Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
商城订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励

投诉建议

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 积分商城 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 厦门大学董继扬获国家专利权

厦门大学董继扬获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉厦门大学申请的专利一种用于识别质谱成像数据中空间群聚离子的方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119400275B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411538584.8,技术领域涉及:G16C20/20;该发明授权一种用于识别质谱成像数据中空间群聚离子的方法及系统是由董继扬;沈雄辉;郭磊;徐向南设计研发完成,并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于识别质谱成像数据中空间群聚离子的方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于识别质谱成像数据中空间群聚离子的方法和系统,涉及质谱成像数据处理技术领域,方法包括:S1,预处理MSI数据获得原始离子图像集,对其进行维度约简获得嵌入离子图像集;S2,随机化原始离子图像集获得随机化离子图像集;S3,图像块划分所有图像集得到原始离子图像块集、嵌入离子图像块集和随机化离子图像块集;S4,构建采样概率,基于采样概率进行下采样,获得原始离子图像下采样集与随机化离子图像下采样集;S5,分别构建两个下采样集中的相关系数并计算空间群聚分数;S6,基于所有离子图像的空间群聚分数进行筛选。本发明利用MSI图像的信号强度差与空间距离的相关性作为空间群聚度的度量,充分提取了信号强度的空间分布特征。

本发明授权一种用于识别质谱成像数据中空间群聚离子的方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种用于识别质谱成像数据中空间群聚离子的方法,其特征在于,包括如下步骤: S1,对质谱成像数据进行预处理,获得原始离子图像集;对原始离子图像集进行维度约简,获得嵌入离子图像集; S2,对原始离子图像集中各个离子图像的像素进行位置随机置换,获得随机化离子图像集; S3,将原始离子图像集中的所有离子图像、嵌入离子图像集所有离子图像和随机化离子图像集中的所有离子图像以相同的方式分别进行图像块划分,得到原始离子图像块集、嵌入离子图像块集和随机化离子图像块集;进行图像块划分时,每一个离子图像划分的图像块大小和数量相同; S4,基于嵌入离子图像块集构建采样概率,使用采样概率对原始离子图像块集和随机化离子图像块集中各个离子图像块的像素点分别进行下采样,获得原始离子图像下采样集与随机化离子图像下采样集; S5,构建原始离子图像下采样集中单个离子图像的单个图像块的相关系数;构建随机化离子图像下采样集中与原始离子图像下采样集中单个离子图像同一位置的图像块的相关系数;基于两个相关系数构建单个离子图像的空间群聚分数; S6,重复步骤S5,计算出原始离子图像下采样集与随机化离子图像下采样集中所有离子图像的空间群聚分数,筛选出大于预设的阈值的离子图像,得到筛选后的离子图像集; S5中,构建原始离子图像下采样集中单个离子图像的单个图像块的相关系数;构建随机化离子图像下采样集中与原始离子图像下采样集中单个离子图像同一位置的图像块的相关系数,具体如下: 计算原始离子图像下采样集M的第i个离子图像第k个图像块mi,k的任意两个采样点a,b的信号强度差和空间距离并计算采样点的信号强度差与空间距离之间的相关系数,表示为: 其中,表示原始离子图像下采样集M中,第i个离子图像中第k个图像块的采样点的信号强度差与空间距离之间的相关系数;i=1,2,..,N,N表示离子图像数;cor表示Spearman相关系数计算函数;mi,k,a表示mi,k中a采样点的信号强度值;mi,k,b表示mi,k中b采样点的信号强度值;xa表示a的横坐标;ya表示a的纵坐标;xb表示b的横坐标,yb表示b的纵坐标; 随机化离子图像下采样集的两个采样点为c,d;c与a在图像块中的空间位置匹配,d与b在图像块中的空间位置匹配;计算随机化离子图像下采样集R的第i个离子图像第k个图像块中,采样点的信号强度差与空间距离之间的相关系数,表示为: 其中,ri,k,c表示ri,k中c采样点的信号强度值;ri,k,d表示ri,k中d采样点的信号强度值;xc表示c的横坐标;yc表示c的纵坐标;xd表示d的横坐标;yd表示d纵坐标; 第i个离子图像的空间群聚分数为原始离子图像下采样集M和随机化离子图像下采样集R中所有图像块的相关系数差的绝对值之和,表示为: 其中,||表示绝对值;K表示单个离子图像中的图像块总数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人厦门大学,其通讯地址为:361000 福建省厦门市思明南路422号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。