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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119689215B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411949150.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法及相关设备是由倪茂;陈明;郝晓冉;张义恒设计研发完成，并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法及相关设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法及相关设备，通过在接收芯片执行敏感指令前输出的同步干扰指令后，进行自学习干扰延时，并触发干扰源生成干扰信号，在自学习的过程中，若等待周期内未接收到芯片的运行状况信号，则认为芯片在干扰信号下运行异常，并向芯片发送异常确认信号；芯片在接收到异常确认信号后，重置错误的敏感指令，继续进行干扰延时的自学习过程，当接收到的同步干扰指令的次数达到预设次数，且自学习后的干扰延时不小于执行周期，根据所有干扰延时下的异常次数，生成芯片的测试结果。本申请无需使用示波器或手动修改延时参数，自适应调整干扰信号产生时间，进一步提高干扰环境下芯片可靠性问题检测自动化效率。

本发明授权基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法，其特征在于，包括： 接收芯片的同步干扰指令；其中，所述芯片按照执行周期执行敏感指令，并在执行敏感指令前输出同步干扰指令； 设置第一干扰延时，并触发干扰源生成干扰信号； 若在等待周期内未接收到所述芯片的运行状况信号，记录当前第一干扰延时下的异常次数，并向所述芯片发送异常确认信号；其中，所述芯片在接收到所述异常确认信号后，重置错误的敏感指令，继续按照执行周期执行敏感指令，并在执行敏感指令前输出同步干扰指令； 若在等待周期内接收到所述芯片的运行状况信号，且接收到的同步干扰指令的次数未达到预设次数，则重置等待周期，返回执行所述接收芯片的同步干扰指令步骤； 若接收到的同步干扰指令的次数达到预设次数，将所述第一干扰延时增加预设步长，得到第二干扰延时； 若所述第二干扰延时小于执行周期，则将所述第二干扰延时作为新的第一干扰延时，返回执行所述设置第一干扰延时，并触发干扰源生成干扰信号步骤； 若所述第二干扰延时不小于执行周期，则根据所有第一干扰延时下的异常次数，生成所述芯片的测试结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院微电子研究所，其通讯地址为：100029 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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