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龙图腾网获悉南京信息工程大学申请的专利一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119692144B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411835330.2，技术领域涉及：G06F30/25；该发明授权一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法是由方乐程;顾斌;陈祥;叶爽;丁留贯设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法，包括以下步骤：S1.建立航天电子器件靶材模型，计算目标器件SEU截面与质子能量关系；S2.分析航天器件在轨质子辐射环境要素，获取探测数据并计算SPE的辐射通量；S3.计算SPE发生过程导致的器件单粒子翻转的度量参数；S4.根据计算结果对SPE导致的SEU风险进行评估分级。采用MonteCarlo方法进行电子器件SEU截面计算，能够准确获得单能质子导致的器件敏感区的非弹性能量沉积事件。本申请能够准确有效地为航天器件的故障排查与信息纠错提供依据，并且能够直接应用于现有在轨航天器。

本发明授权一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法在权利要求书中公布了：1.一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.根据航天电子器件数据参数，建立器件靶材模型，计算目标器件SEU截面σSEU与质子能量EP的关系σSEUEP，建立SEU截面库； S2.分析航天器件在轨质子辐射环境要素，获取探测数据并针对SPE发生期间航天器的所在位置计算轨道辐射环境的质子辐射通量； S3.结合S1、S2的计算结果，计算太阳质子事件发生过程导致的器件单粒子翻转的度量参数； S4.根据S3获得的度量参数对太阳质子事件导致的SEU风险进行风险评估分级； S3中器件单粒子翻转的度量参数包括SPE导致的每bit最大翻转概率PTotMax、SPE全过程导致的器件每bit最大累积翻转截面ΣTotMax、整个器件的最大总翻转次数NTotMax、器件平均SEU翻转率； S4中的风险评估分级的方法为：根据航天器件的每bit最大翻转概率PTotMax分布数据，将风险设为四个等级，其中： L0：低风险区，对应单粒子最大翻转概率阈值上限为PTotMax=； L1：中风险，黄色预警区，对应单粒子最大翻转概率阈值上限为PTotMax=； L2：高风险，橙色预警区，对应最大SEU翻转概率上限PTotMax=； L3：极端风险，红色预警区，对应单粒子翻转概率上限超过PTotMax=； S1中计算目标器件SEU截面与质子能量的关系的方法为：采用基于MonteCarlo原理的计算模拟方法，模拟高能质子与目标器件的相互作用过程，并根据模拟结果统计敏感区的能量沉积，根据SEU发生的能量判据和SEU截面σSEU计算公式开展计算分析；所述SEU截面计算公式为： ，其中，是能量为EP的入射质子的数目，是模拟中记录的SEU事件数，为模拟靶材的表面积，在模拟中也是入射粒子源的面积，为靶材模型对应的比特数； S2中计算轨道辐射环境的质子辐射通量的方法为：根据卫星观测数据，拟合太阳质子事件的参数化双幂律分布函数能谱，能谱分布函数使用四个自由参数来描述太阳质子谱线在宽能量范围内的行为特征； 所述参数化双幂律分布函数能谱公式为： ，其中，是粒子的积分通量或强度，E是粒子的每核子动能，为描述SPE谱线在宽能量范围内行为特征的四个自由参数。

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