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龙图腾网获悉武汉长盈通光电技术股份有限公司申请的专利一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119756784B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411915923.X，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统是由刘淑华;孙谦;刘喆智;夏祖明;徐江河;皮亚斌设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统，涉及特种光纤领域。通过获取不同长度的双包层增益光纤在特定条件下的功率损耗数据，并搭建光致暗化效应的模型，再对每条光纤的功率变化进行处理，消除长度影响后的数据进行归一化处理，并设立目标函数，再进行模型参数优化，获得最优的不同光纤长度与对应功率的数据参考表，利用模型计算待测光纤在预设波段的功率在光致暗化前后的变化百分比，将测量结果与参考数据进行比较，若差值小于误差阈值，则视为待测光纤的有效测量结果；本发明进行了系统化的步骤，提高了数据处理的精确度，从而提高了测量双包层增益光纤的光致暗化效应的准确性和可靠性。

本发明授权一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法及系统在权利要求书中公布了：1.用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：获取并利用不同光纤长度与对应功率损耗的数据集； S2：计算每条光纤消除长度影响后的功率变化，再对消除长度影响后的数据进行归一化处理后，设立目标函数，搭建光致暗化效应模型，公式为： ； 式中，和为初始功率和最终功率，为衰减系数，为光纤长度； S3：采用梯度下降算法最小化目标函数，获得最优的不同光纤长度与对应功率的数据参考表； S4：将长度为L1待测光纤接入光致暗化效应模型，获得待测结果，即计算测试光纤的预设波段的功率在光致暗化前后，功率变化百分比； S5：查找S3中数据参考表的对应数据，并与S4测量结果相减，若差值小于误差阈值，则为待测光纤的有效测量结果；然后将有效测量结果，根据S4分析并整理得出待测光纤的功率随时间的衰减变化图； 获取并利用不同光纤长度与对应功率损耗的数据集，包括以下步骤： 将多条待测光纤依次接入测试光路中，即两端分别与高反光栅和低反光栅进行熔接，光源中的光耦合进入待测光纤中，使用第一泵浦光源进行扫描测试，记录功率计稳定后的数值并关闭第一泵浦光源，保存数据，数据记为A； 开启第二泵浦光源并持续预设时间段，功率计实时记录功率变化曲线，将数据处理为时序数据，同时再将数据处理为第二波长光纤光致暗化附加损耗随泵浦时间的变化曲线，第二波长即第二泵浦光源的波段长度； 关闭开启第二泵浦光源，开启第一泵浦光源，记录功率计稳定后的数据，并关闭第一泵浦光源，保存数据，数据记为B； 其中，一根待测光纤测试完成后，方可进行第二根待测光纤的测试。

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