普冉半导体(上海)股份有限公司秦佳敏获国家专利权
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龙图腾网获悉普冉半导体(上海)股份有限公司申请的专利HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119847840B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411921613.9，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质是由秦佳敏;王昊设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明实施例提出一种HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质，涉及芯片技术领域。该方法在串行存在检测集线器中内置非易失存储器，并利用非易失存储器持久化保存串行存在检测集线器在低温、常温和高温下均能正常工作的HID，即最佳HID。在使用串行存在检测集线器时，用户可以直接获取串行存在检测集线器的非易失存储器中的最佳HID，为串行存在检测集线器的HSA引脚接入最佳HID对应的预设电阻值，为用户节省测试时间，提升用户的使用体验。
本发明授权HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种HSA引脚电阻值选择方法，其特征在于，应用于芯片测试机，所述芯片测试机上安装有串行存在检测集线器，所述串行存在检测集线器包括非易失存储器和HSA引脚；所述方法包括： 为所述HSA引脚依次接入不同的预设电阻值；每个所述预设电阻值对应一个HID； 基于所述预设电阻值，获取所述串行存在检测集线器在低温、常温和高温下的测试结果； 当所述预设电阻值对应的所述串行存在检测集线器在低温、常温和高温下的测试结果均为通过时，将所述预设电阻值对应的HID确定为最佳HID，并将所述最佳HID保存在所述非易失存储器中，以便用户基于所述最佳HID接入对应的预设电阻值；所述串行存在检测集线器在低温、常温和高温下的测试结果均为通过，表征所述串行存在检测集线器在低温、常温和高温下均正常工作。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人普冉半导体(上海)股份有限公司，其通讯地址为：201000 上海市浦东新区申江路5005弄1号9层整层(实际楼层8楼)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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