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龙图腾网获悉吉林财经大学申请的专利基于表面等离子体与谐振腔耦合的超快光谱测试装载系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119880831B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510105660.4，技术领域涉及：G01N21/31；该发明授权基于表面等离子体与谐振腔耦合的超快光谱测试装载系统是由岳圆圆设计研发完成，并于2025-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于表面等离子体与谐振腔耦合的超快光谱测试装载系统在说明书摘要公布了：本发明涉及纳米光子学技术领域，公开了一种基于表面等离子体与谐振腔耦合的超快光谱测试装载系统，包括基底；表面等离子体模式产生结构，置于基底上，表面等离子体模式产生结构由二维金属纳米结构形成，二维金属纳米结构为金孔阵列或金光栅阵列状的金属膜；耦合层，设于所述表面等离子体模式产生结构上方；上层金属膜，设于耦合层上；微腔结构，金属膜与上层金属膜形成微腔结构；其中，表面等离子体模式产生结构与微腔结构耦合形成超快光谱测试装载装置。能够探测表面等离子体模式产生结构与微腔结构之间耦合层中物质的超快光谱，进而可研究其中物质的超快特性，实现对透明度极高的物质的超快光谱测试。

本发明授权基于表面等离子体与谐振腔耦合的超快光谱测试装载系统在权利要求书中公布了：1.一种基于表面等离子体与谐振腔耦合的超快光谱测试装载系统，其特征在于，包括： 基底1； 表面等离子体模式产生结构2，置于所述基底1上，所述表面等离子体模式产生结构2由二维金属纳米结构形成，所述二维金属纳米结构为金孔阵列或金光栅阵列状的金属膜； 耦合层4，设于所述表面等离子体模式产生结构2上方； 上层金属膜，旋涂于所述耦合层4上； 微腔结构3，所述金属膜与所述上层金属膜形成所述微腔结构3，所述微腔结构3为法布里-珀罗谐振腔； 其中，所述耦合层4包含待测样品，所述耦合层4厚度能够被改变，用于调节所述表面等离子体模式产生结构2与所述微腔结构3之间，以及所述表面等离子体模式产生结构2与待测样品之间的耦合强度，所述表面等离子体模式产生结构2与所述微腔结构3耦合形成超快光谱测试装载装置，用于探测待测样品的超快光谱； 所述基底1上旋涂有光刻胶，所述金孔阵列图案与所述金光栅阵列的图案于所述光刻胶上刻蚀形成，金属膜在所述光刻胶上沉积，形成所述金孔阵列和所述金光栅阵列； 所述金孔阵列中，孔的周期为400nm，直径为165nm，深度为200nm，金属膜的厚度为50nm； 所述金光栅阵列中，光栅的周期为400nm，占空比为0.4，金属膜的厚度为50nm。

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