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龙图腾网获悉国家市场监督管理总局认证认可技术研究中心申请的专利一种芯片算力测试方法、装置和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119883752B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411817608.3，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种芯片算力测试方法、装置和存储介质是由岳岩;李莉;吴海文;刘曦;王茂华;王若冰;费艳;郭天慧;周文星设计研发完成，并于2024-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片算力测试方法、装置和存储介质在说明书摘要公布了：本说明书实施例提供了一种芯片算力测试方法、装置和存储介质，其中，所述方法包括：确定待测试芯片的测试环境，在所述测试环境中芯片需求算力按照预设规则变化；在所述测试环境中，运行所述待测试芯片；针对运行中的待测试芯片，采集所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，其中所述第一变化数据用于表征芯片温度随时间变化的数据，所述第二变化数据用于表征输出算力随时间变化的数据；以及根据所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，对所述待测试芯片的算力波动程度进行评价。本申请提供的技术方案解决了现有技术很难真实反映芯片的真实性能，并降低了芯片测评的准确度的问题。

本发明授权一种芯片算力测试方法、装置和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片算力测试方法，其特征在于包括： 确定待测试芯片的测试环境，在所述测试环境中芯片需求算力按照预设规则变化； 在所述测试环境中，运行所述待测试芯片； 针对运行中的待测试芯片，采集所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，其中所述第一变化数据用于表征芯片温度随时间变化的数据，所述第二变化数据用于表征输出算力随时间变化的数据；以及 根据所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，对所述待测试芯片的算力波动程度进行评价； 所述测试环境包括多个场景，各所述场景的需求算力不同；并且 所述芯片需求算力按照预设规则变化包括： 按照预设周期或时序切换所述多个场景； 采集过程延迟和准确率包括： 采集各所述场景下的过程延迟和准确率； 针对每一个场景，根据所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，对所述待测试芯片的算力波动程度进行评价，包括： 根据所述第一变化数据和所述第二变化数据，确定输出算力随温度变化的曲线；以及 根据所述输出算力随温度变化的曲线、所述过程延迟和所述准确率，评价所述待测试芯片的算力波动。

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