联和存储科技(江苏)有限公司俞文全获国家专利权
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龙图腾网获悉联和存储科技(江苏)有限公司申请的专利SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119889409B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411862074.6，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备是由俞文全;高伟设计研发完成，并于2024-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种SPINANDFLASH存储芯片的测试方法及测试设备，该SPINANDFLASH存储芯片的测试方法包括：根据用户输入的读取数据、写入数据和擦除数据的测试指令，按初始频率对SPINANDFLASH存储芯片执行相应的读取、写入和擦除测试；根据测试结果调整所述初始频率并重新执行测试。本申请可以有效地测试NAND闪存的读取、写入、擦除在不同操作频率下的性能，还可以完全实现自动化，减少了人工参与，在降低成本的同时保证了测试效率，能很好地实现变频SPINANDFLASH存储芯片的小批量测试验证。
本发明授权SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备在权利要求书中公布了：1.一种SPINANDFLASH存储芯片的测试方法，其特征在于，包括： 根据用户输入的读取数据、写入数据和擦除数据的测试指令，按初始频率对SPINANDFLASH存储芯片执行相应的读取、写入和擦除测试； 根据测试结果调整所述初始频率并重新执行测试； 所述按初始频率对SPINANDFLASH存储芯片执行相应的读取、写入和擦除测试包括： 根据用户输入的写数据自动测试指令，按初始频率将预设数据写入SPINANDFLASH存储芯片； 读取所述SPINANDFLASH存储芯片，以获取第一读取数据； 将所述第一读取数据与所述预设数据进行比较，以获取写入测试结果； 所述根据测试结果调整所述初始频率并重新执行测试包括： 根据第一读取数据与预设数据不一致的测试结果，调整所述初始频率并重新执行写入测试； 其中，按预设的频率间隔调整所述初始频率。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人联和存储科技(江苏)有限公司，其通讯地址为：214000 江苏省无锡市经济开发区新园路富力中心C5-401-03；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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