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龙图腾网获悉南通翰缈智能科技有限公司申请的专利用于芯片测试的分选控制方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119897295B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510215994.7，技术领域涉及：B07C5/36；该发明授权用于芯片测试的分选控制方法及装置是由邵子宴设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于芯片测试的分选控制方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了用于芯片测试的分选控制方法及装置，涉及物品分选技术领域，包括：设置用于芯片测试的载具；将多个待测芯片放置载具上的多个测试位，每个待测芯片的引脚包括扫描寄存器和测试访问端口；连接芯片测试系统，读取多个待测芯片对应的测试脚本；根据测试脚本控制边界扫描测试仪进行边界扫描测试，输出芯片响应数据；对芯片响应数据进行分析，识别异常芯片以及异常芯片的测试位，按照异常芯片的测试位控制分选机构进行异常分选。本发明解决现有技术存在分选速度慢、分选线路规划不合理，芯片测试和分选控制的结合度不够紧密的技术问题，达到提高分选速度、合理规划分选线，以及提高芯片测试和分选控制结合度的技术效果。

本发明授权用于芯片测试的分选控制方法及装置在权利要求书中公布了：1.用于芯片测试的分选控制方法，其特征在于，所述方法包括： 设置用于芯片测试的载具，所述载具上设置多个测试位； 将多个待测芯片放置所述载具上的多个测试位中，其中，每个待测芯片的引脚包括扫描寄存器和测试访问端口，且每个待测芯片对应的测试单路扫描链之间相互连接； 连接芯片测试系统，读取所述多个待测芯片对应的测试脚本； 根据所述测试脚本控制边界扫描测试仪对所述多个待测芯片进行边界扫描测试，输出芯片响应数据； 对所述芯片响应数据进行分析，识别异常芯片以及所述异常芯片的测试位，按照所述异常芯片的测试位控制分选机构进行异常分选； 其中，所述载具内规划有单路扫描链，规划所述单路扫描链包括： 获取所述多个测试位的位置信息和布局结构信息； 按照所述布局结构信息进行单路扫描链规划，直至满足预设扫描链规划指标，输出所述载具的单路扫描链，包括单路扫描链起始点、终止点以及中间节点； 所述边界扫描测试仪通过所述单路扫描链对所述多个待测芯片进行边界扫描测试； 其中，所述载具内还规划有多路扫描链，其中，所述多路扫描链与所述多个测试位对应； 根据所述多路扫描链对所述多个待测芯片进行独立边界扫描测试； 其中，所述芯片测试系统还包括模式切换控制模块； 其中，所述模式切换控制模块设置有芯片响应健康样本； 所述模式切换控制模块根据所述芯片响应健康样本对所述芯片响应数据进行异常识别，若所述芯片响应数据出现异常，激活模式切换指令，其中，所述芯片响应数据通过单路扫描链的模式测试获取； 根据所述模式切换指令将单路扫描链的模式切换至多路扫描链的模式，获取多个芯片响应数据，根据所述多个芯片响应数据识别异常芯片。

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