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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种等离子体中颗粒带电量的测量方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119986175B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410621365.X，技术领域涉及：G01R29/24；该发明授权一种等离子体中颗粒带电量的测量方法与装置是由张尊;李灏辰;孔令宣;朱灿;任军学;王一白;汤海滨;曹晋滨设计研发完成，并于2024-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种等离子体中颗粒带电量的测量方法与装置在说明书摘要公布了：本发明设计带点颗粒检测技术领域，且具体的涉及一种等离子体中的颗粒带电量测量的方法与装置，装置具体的包含了一种带储仓式的法拉第杯装置结构设计以及一种可控制的颗粒掉落装置，以解决传统测量方式难以测量单个较大颗粒的带电量的问题。其中带储仓式的法拉第杯装置，包括：金属电荷收集器、收集器底座、底座储仓、屏蔽壳、屏蔽盖、漂移管、绝缘底座、绝缘顶盖、磁铁、磁铁固定装置；可控制的颗粒掉落装置，包括主体后、主体右、主体左、推拉式电磁铁、螺丝。本发明提出一种等离子体中的颗粒带电量测量的方法与装置，解决法拉第杯收集器容量较小，无法测量多粒颗粒的带电量，大量颗粒同时进入法拉第杯信号无法分辨等问题。

本发明授权一种等离子体中颗粒带电量的测量方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种等离子体中的颗粒带电量测量的方法与装置，具体的包含了一种带储仓式的法拉第杯装置结构设计以及一种可控制的颗粒掉落装置；其中一种带储仓式的法拉第杯装置，包括：金属电荷收集器1、收集器底座2、底座储仓3、屏蔽壳4、屏蔽盖5、漂移管6、绝缘底座7、绝缘顶盖8、磁铁9、磁铁固定装置10；一种可控制的颗粒掉落装置，包括主体后11、主体右13、主体左、推拉式电磁铁、螺丝14； 所述金属电荷收集器1放置与收集器底座2中且通过定位器及定位孔定位，收集器底座2同轴置于底座储仓3之上且与底座储仓3粘连固定，所述收集器底座2与底座储仓3放置于屏蔽壳4与屏蔽盖5之内，所述屏蔽壳4与屏蔽盖5构成一个完整的屏蔽层，所述屏蔽盖5中心开直径2-3倍于所测颗粒如直径2mm颗粒则槽直径为4-6mm的通孔以使颗粒可以通过，所述屏蔽层放置与绝缘底座7与绝缘顶盖8之内，所述绝缘底座7和绝缘顶盖8构成一个完整的绝缘层，所述绝缘顶盖8中心开直径2-3倍于所测颗粒如直径2mm颗粒则槽直径为4-6mm的通孔以使颗粒可以通过，所述漂移管6同轴置于绝缘顶盖8中心的通孔中，所述磁铁9固定于磁铁固定装置10中，所述磁铁固定装置10固定于绝缘顶盖8周围以产生磁场屏蔽等离子体；所述主体后11中间开螺丝孔，为固定螺丝固定点，所述主体右13与主体后用螺丝固定，所述主体右13表面开槽12，槽12深度及宽度与所通过颗粒尺寸适配，如直径2mm颗粒则槽直径为2.4mm，所述主体左为亚克力透明板，与主体右13用螺丝固定，所述推拉式电磁铁额定电压为12V，固定在主体后11上，所述螺丝14固定在推拉式电磁铁前端且前端开竖直小孔用于颗粒通过。

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