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龙图腾网获悉芯动微电子科技(武汉)有限公司申请的专利一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120567630B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511067929.0，技术领域涉及：H04L25/03；该发明授权一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置是由谌竟成;马忠杰;胡晓宇设计研发完成，并于2025-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置，包括：设定serdes芯片中预设配置类型的所有配置参数的取值范围，按照各个配置参数以及各自对应的取值范围生成初始粒子群；将所述初始粒子群作为输入粒子群输入至第一轮迭代中；每轮迭代中包括：将输入粒子群中的每个微粒输入至对应的serdes芯片中，获取每个微粒对应的眼图，根据每个微粒对应的眼图得到每个微粒对应的目标值；获取输入粒子群中所有微粒中的最大目标值作为局部最优值，获取目前所有迭代轮次中目标值最大的局部最优值作为全局最优值；在满足终止条件后，得到serdes芯片的最优配置参数，提升了寻优效率以及信道补偿的性能。

本发明授权一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法，其特征在于，包括： 设定serdes芯片中预设配置类型的所有配置参数的取值范围，按照各个配置参数以及各自对应的取值范围生成初始粒子群； 将所述初始粒子群作为输入粒子群输入至第一轮迭代中； 每轮迭代中包括：将输入粒子群中的每个微粒输入至对应的serdes芯片中，获取每个微粒对应的眼图，根据每个微粒对应的眼图得到每个微粒对应的目标值；获取输入粒子群中每个微粒在历史迭代轮次中的最大目标值作为该微粒的局部最优值，获取目前所有迭代轮次的所有微粒中的最大目标值作为全局最优值；判断是否满足终止条件； 当满足终止条件时，将当前全局最优值所对应的微粒中的配置参数作为最优配置； 当不满足终止条件时，将当前输入粒子群中每个微粒根据自身的局部最优值以及全局最优值进行迭代更新，得到下一轮迭代的输入粒子群并输入至下一轮迭代中；本轮迭代中的每个微粒根据自身的局部最优值以及全局最优值得到自身对应的更新差量；本轮迭代中的每个微粒根据自身对应的更新差量进行更新，得到下一轮迭代所对应的微粒，进而得到下一轮迭代的输入粒子群；所述更新差量的公式为： ； 其中，为第n轮迭代中微粒更新差量，为第n+1轮迭代中微粒更新差量，和为取值范围为的随机数，为取值范围为的随机数，为本轮迭代的局部最优值所对应的微粒，为当前全局最优值所对应的微粒，为本轮迭代中的第i个微粒。

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