上海微观纪元数字科技有限公司陶文萱获国家专利权
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龙图腾网获悉上海微观纪元数字科技有限公司申请的专利基于校验矩阵的量子联合测量方法、系统和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120706588B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511142306.5，技术领域涉及：G06N10/20；该发明授权基于校验矩阵的量子联合测量方法、系统和电子设备是由陶文萱;吴垂雄;王佳楠;左芬;吕川设计研发完成，并于2025-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于校验矩阵的量子联合测量方法、系统和电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于校验矩阵的量子联合测量方法、系统和电子设备，基于校验矩阵的量子联合测量方法包括：获取并预处理泡利项集合的生成元，得到泡利项集合对应的完整生成元；根据完整生成元，生成初始校验矩阵；将初始校验矩阵变换成目标校验矩阵，记录变换过程中使用的量子门及其顺序；根据量子门及其顺序，生成按序组成的联合测量量子电路；根据联合测量量子电路、联合测量次数和待测量子态，得到在Z基下的生成元对应的测量结果；生成并更新泡利项集合对应的第一校验矩阵，得到第二校验矩阵，计算泡利项集合中的泡利项的期望值。本发明基于矩阵进行简单变换，可得到用于联合测量的量子电路，无需在整个量子态进行复杂运算，提高了计算效率。
本发明授权基于校验矩阵的量子联合测量方法、系统和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种基于校验矩阵的量子联合测量方法，其特征在于，所述方法包括： 获取并预处理泡利项集合的生成元，得到所述泡利项集合对应的完整生成元； 根据所述完整生成元，生成初始校验矩阵； 将所述初始校验矩阵变换成目标校验矩阵，记录变换过程中使用的量子门及其顺序； 根据所述量子门及其顺序，生成按序组成的联合测量量子电路； 根据所述联合测量量子电路、联合测量次数和待测量子态，得到在Z基下的所述生成元对应的测量结果； 生成所述泡利项集合对应的第一校验矩阵，使用所述联合测量量子电路更新所述第一校验矩阵，得到第二校验矩阵，并根据所述测量结果和所述第二校验矩阵，计算所述泡利项集合中的泡利项的期望值； 其中，所述初始校验矩阵由相位指数、X矩阵和Z矩阵组成，所述目标校验矩阵的特征是X矩阵为全零矩阵、Z矩阵为单位矩阵、相位指数均为零。
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