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龙图腾网获悉中国航发北京航空材料研究院申请的专利一种晶体取向检测方法及相关装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120741531B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511217544.8，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权一种晶体取向检测方法及相关装置是由王曦;李楠;刘昌奎;罗军;郑真;骆宇时;邢伟杰;张迈设计研发完成，并于2025-08-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种晶体取向检测方法及相关装置在说明书摘要公布了：本申请公开了一种晶体取向检测方法及相关装置，涉及晶体检测技术领域。本申请采用同步辐射光源产生的射线，对待测样品的待测区域进行照射；控制待测样品以预设间隔进行旋转，并基于探测器采集的，待测区域在每个旋转角度对射线的透射光和衍射光，分别对应的透射光光斑位置和衍射光光斑位置，确定每个旋转角度分别对应的衍射光在样品坐标系中的衍射矢量；依据至少一个旋转角度对应的预设晶面指数以及衍射矢量，确定表征样品坐标系与晶体坐标系之间转换关系的表达式，作为待测样品的晶体取向。通过旋转待测样品，减少晶面检测盲区，并结合多个晶面的晶面指数和衍射矢量，共同确定样品坐标系与晶体坐标系之间的转换关系，提升晶体取向的准确性。

本发明授权一种晶体取向检测方法及相关装置在权利要求书中公布了：1.一种晶体取向检测方法，其特征在于，应用于晶体取向检测系统的控制器，所述晶体取向检测系统至少还包括：分别设置于待测样品两侧的同步辐射光源和探测器，所述晶体取向检测方法，包括： 控制所述同步辐射光源产生的射线，垂直照射所述待测样品的待测区域； 控制所述待测样品以预设间隔进行旋转，确定旋转后所述待测样品的旋转角度，并获取所述探测器采集的，所述待测区域在每个所述旋转角度对所述射线的透射光和衍射光，分别对应的透射光光斑位置和衍射光光斑位置，所述旋转角度为所述待测样品相对于初始角度的偏离角度； 基于所述透射光光斑位置和所述衍射光光斑位置，确定每个所述旋转角度分别对应的所述衍射光在样品坐标系中的衍射矢量，所述样品坐标系为以所述待测区域的中心作为原点，构建的三维坐标系； 依据至少一个所述旋转角度对应的预设晶面指数以及所述衍射矢量，确定表征所述样品坐标系与晶体坐标系之间转换关系的表达式，作为所述待测样品的晶体取向； 其中，预设所述晶面指数的过程包括： 基于至少一个所述旋转角度分别对应的所述衍射矢量，确定所述待测样品的衍射极图； 获取所述待测样品的晶体类型对应的标准衍射极图； 依据所述衍射极图与所述标准衍射极图之间的差异，确定所述待测样品不同晶面的晶面指数。

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