上海亿威航空电子股份有限公司张丽君获国家专利权
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龙图腾网获悉上海亿威航空电子股份有限公司申请的专利基于双层SAM模型协同的PCB表面缺陷检测方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120747085B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511240300.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于双层SAM模型协同的PCB表面缺陷检测方法和系统是由张丽君;陈凯;姜首志;凌达设计研发完成，并于2025-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于双层SAM模型协同的PCB表面缺陷检测方法和系统在说明书摘要公布了：本申请提供基于双层SAM模型协同的PCB表面缺陷检测方法和系统，方法包括：获取待测PCB图像的工业图像域特征和图像块特征；采用上游SAM模型，对待测PCB图像执行全局语义分割，提取多个语义掩码，并表示为加权语义掩码特征；基于图像块特征和加权语义掩码特征，计算待测PCB图像与基于正常PCB图像构建的核心内存库的欧氏距离，获得多级异常评分；融合多级异常评分，得到粗糙异常评分图；采用下游SAM模型，以粗糙异常评分图作为提示，结合上游SAM模型学习的正常PCB结构，得到有效分割区域掩码；基于有效分割区域掩码，对粗糙异常评分图执行像素级异常区域细化，得到精细异常评分图，用于缺陷检测的类别判断与定位。本申请实现了小样本场景下的高精度缺陷检测。
本发明授权基于双层SAM模型协同的PCB表面缺陷检测方法和系统在权利要求书中公布了：1.基于双层SAM模型协同的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，包括： 使用预训练的ResNet18模型提取待测PCB图像的自然图像域特征，并通过自适应特征转换器转换为工业图像域特征，构建包含邻域信息的图像块特征； 采用上游SAM模型，对所述待测PCB图像执行全局语义分割，提取多个语义掩码，并表示为加权语义掩码特征； 基于所述图像块特征和加权语义掩码特征，计算所述待测PCB图像与基于正常PCB图像构建的核心内存库的欧氏距离，获得多级异常评分； 融合所述多级异常评分，得到粗糙异常评分图； 采用下游SAM模型，以所述粗糙异常评分图作为提示，结合上游SAM模型学习的正常PCB结构，得到有效分割区域掩码； 基于所述有效分割区域掩码，对所述粗糙异常评分图执行像素级异常区域细化，得到精细异常评分图，用于缺陷检测的类别判断与定位。
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