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龙图腾网获悉西安中讯达科技有限公司申请的专利基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120747119B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511271729.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统是由史瑞鹏;樊佳伟;王帆设计研发完成，并于2025-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及电子元件图像特征检测的技术领域，具体涉及一种基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统。获取电子元件图像并将其均匀分割为多个矩形区域。选取参考区域，根据其像素邻域灰度差异计算信息量描述子。以此对所有区域聚类并筛选出特征区域。结合特征区域内相邻区域的信息量描述子差异，以及AKAZE多尺度空间下的像素灰度与梯度差异，生成特征系数。利用该系数将待测图像与模板图像进行配准，最终实现电子元件的精确缺陷检测。本发明能够获取电子元件图像中的显著特征点，实现电子元件图像与模板图像的精准配准，进而使电子元件缺陷能够被准确识别。

本发明授权基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于图像识别的电子元件缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取电子元件图像；将所述电子元件图像均分为多个预设尺寸的矩形区域；任选一个矩形区域作为参考区域；根据参考区域中每个像素点与预设邻域内每个其他像素点之间的灰度差异，获得参考区域的信息量描述子；根据参考区域的所述信息量描述子，对所有矩形区域进行聚类，获得所有聚类簇；根据每个聚类簇中所有矩形区域的所述信息量描述子，对所有聚类簇进行筛选，获得所有特征区域；根据所述特征区域中相邻矩形区域之间的信息量描述子差异，以及特征区域内像素点与算法下不同尺度空间中相同像素点之间的灰度差异和梯度差异，获得特征区域的特征系数；利用所述特征系数，将所述电子元件图像与模板电子元件图像进行配准；根据配准后的电子元件图像对电子元件进行缺陷检测；所述信息量描述子的获取方法包括：根据信息量描述子计算公式获取所述信息量描述子，所述信息量描述子计算公式如下所示：式中，表示参考区域的所述信息量描述子；表示参考区域内的像素点数量；表示参考区域内第个像素点的预设邻域内的其他像素点数量；表示参考区域内第个像素点的灰度值；表示参考区域内第个像素点的预设邻域内第个其他像素点的灰度值；表示绝对值函数；所述特征系数的获取方法包括：根据特征系数计算公式获取所述特征系数，所述特征系数计算公式如下所示：式中，表示每个特征区域的特征系数；表示每个特征区域内包含的矩形区域数量；表示每个特征区域内第个矩形区域的信息量描述子；表示每个特征区域内第个矩形区域的信息量描述子；表示每个特征区域内的像素点数量；表示每个特征区域内的像素点序号；表示算法下的尺度空间数量；表示算法下的尺度空间序号；表示每个特征区域内第个像素点的灰度值；表示算法下的第个尺度空间中第个像素点的灰度值；表示每个特征区域内第个像素点的梯度值；表示算法下的第个尺度空间中第个像素点的梯度值；表示绝对值函数。

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