上海超捷芯软科技有限公司潘仲豪获国家专利权
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龙图腾网获悉上海超捷芯软科技有限公司申请的专利基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120781778B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511264862.X，技术领域涉及：G06F30/39；该发明授权基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备是由潘仲豪设计研发完成，并于2025-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备。包括：对随机采样的N个设计样本进行仿真得到性能指标向量，构成原始数据集S；对每个PVT角的性能指标向量采用核密度估计方法进行建模，得到电路性能参数的概率密度函数以及累积分布函数；通过概率积分变换将性能指标向量映射为标准正态分布变量；基于映射后的数据构建多元高斯分布模型并得到新样本，将所述新样本与所述原始数据集S构成完整数据集，统计数据集中每个角作为最差PVT角的频次，按频次排序得到关键PVT角集合，其中频次最高的为第1个关键PVT角。本申请实施例可以简化仿真计算，显著降低计算成本，精准锁定对电路性能影响最大的PVT角，提升设计可靠性。
本发明授权基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于概率积分变换的关键PVT角评估方法，其特征在于，包括以下步骤： 在每个PVT角下，对随机采样的N个设计样本进行仿真，得到性能指标向量，所有的性能指标向量构成原始数据集S； 对每个PVT角的性能指标向量采用核密度估计方法进行建模，得到电路性能参数的概率密度函数以及累积分布函数； 通过概率积分变换将所述性能指标向量映射为标准正态分布变量； 基于映射后的数据构建多元高斯分布模型； 基于所述多元高斯分布模型得到新样本，计算每个新样本在每个PVT角下的累积分布概率，并通过逆变换将所述新样本映射至原始电路性能空间，得到新样本在PVT角下的原始电路性能； 将所述新样本与所述原始数据集S构成完整数据集，定义最差PVT角的索引，统计数据集中每个角作为最差PVT角的频次，按频次排序得到关键PVT角集合，其中频次最高的为第1个关键PVT角。
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