深圳宇问测量技术有限公司蒋子旋获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳宇问测量技术有限公司申请的专利一种涂层测厚仪获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223525769U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423199989.1，技术领域涉及：G01B21/08；该实用新型一种涂层测厚仪是由蒋子旋;杨军设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种涂层测厚仪在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种涂层测厚仪，包括面壳，所述面壳上固定连接有透明镜片，透明镜片与显示屏固定连接，显示屏通过固定架连接在主PCB板上，主PCB板固定连接在底壳上，底壳上卡接有电池盖，电池盖紧贴在电池组上，面壳和底壳固定在一起；本实用新型，将透明镜片与显示屏安装在面壳中，并在显示屏处增加了泡棉，使得数据的观察更加直观，也更不容易摔坏；滑动弹簧的制作材料优化，保障了滑动弹簧在频繁使用时的强度，延长了仪器的使用寿命；使用微动开关作为触发开关，寿命可达100万次，且触发精度较高，提高了测量精度及用户体验。
本实用新型一种涂层测厚仪在权利要求书中公布了：1.一种涂层测厚仪，包括面壳1，其特征在于：面壳1上固定连接有透明镜片13，透明镜片13上固定连接有显示屏11，显示屏11通过固定架连接在主PCB板8上，主PCB板8固定连接在底壳2上，底壳2上卡接有电池盖26，电池盖26紧贴在电池组7上，电池组7与电池极片9相连接，电池极片9设置在底壳2的内侧壁上，面壳1和底壳2固定在一起。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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