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龙图腾网获悉矽创电子股份有限公司申请的专利芯片的测试垫结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114062718B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110882063.4，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权芯片的测试垫结构是由曾国玮;陈柏琦设计研发完成，并于2021-08-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片的测试垫结构在说明书摘要公布了：本发明提供一种芯片的测试垫结构，其包含多个第一内测试垫、多个第二内测试垫、多个第一延伸测试垫与多个第二延伸测试垫，该多个第一内测试垫与该多个第二内测试垫设置于一芯片，该多个第二内测试垫与该多个第一内测试垫之间具有一距离，该多个第一延伸测试垫连接该多个第一内测试垫，该多个第二延伸测试垫连接该多个第二内测试垫。该多个第一延伸测试垫与该多个第二延伸测试垫增加可被探针接触的面积，探针透过该多个第一延伸测试垫与该多个第二延伸测试垫传递讯号或者电源至该多个第一内测试垫与该多个第二内测试垫，以测试芯片。

本发明授权芯片的测试垫结构在权利要求书中公布了：1.一种芯片的测试垫结构，其特征在于，其包含： 多个第一内测试垫，其设置于一芯片； 多个第二内测试垫，其设置于该芯片，并与该多个第一内测试垫之间具有一距离； 多个第一延伸测试垫，其设置于该芯片，并连接该多个第一内测试垫，且位于该多个第一内测试垫上方；以及 多个第二延伸测试垫，其设置于该芯片，并连接该多个第二内测试垫，且位于该多个第二内测试垫上方； 其中该多个第一延伸测试垫具有一第一侧面与一第二侧面，该多个第二延伸测试垫具有一第一侧面与一第二侧面，该多个第一延伸测试垫的该第二侧面相对于该多个第二延伸测试垫的该第二侧面，该多个第一延伸测试垫的该第一侧面与该多个第二延伸测试垫的该第一侧面之间具有一第一测试距离，该多个第一延伸测试垫的该第二侧面与该多个第二延伸测试垫的该第二侧面之间具有一第二测试距离，该第一测试距离大于该第二测试距离，一检测装置包含二探针，该二探针之间具有一探针距离，该第一测试距离大于该探针距离，该第二测试距离小于该探针距离，该第一延伸测试垫与该第二延伸测试垫的材料不同于该第一内测试垫与该第二内测试垫的材料。

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