中国科学院微电子研究所赵慧冬获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利一种测试方法及测试机台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114624572B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210240258.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种测试方法及测试机台是由赵慧冬;刘畅然;乔树山;刘逸畅设计研发完成，并于2022-03-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试方法及测试机台在说明书摘要公布了：本申请提供一种测试方法及测试机台，获取针对第一芯片进行ULPMark测试的地址映射信息；地址映射信息为在第一芯片进行ULPMark测试时，第一芯片中的存储器需要被访问的地址；根据地址映射信息，确定第一芯片中的存储器的实际使用容量；根据存储器的实际使用容量，确定第一芯片中存储器的可行容量，以根据可行容量对第一芯片的存储器的容量进行优化。可见，根据地址映射信息能够确定存储器的实际使用容量，根据存储器的实际使用容量来调整存储器的可行容量，对存储器的容量进行优化，使存储器的容量和地址映射信息占用的容量匹配，避免存储器容量过大而地址映射信息占用的容量较小，导致存储器容量浪费以及功耗高的问题，从而降低芯片功耗，提高芯片质量。
本发明授权一种测试方法及测试机台在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，其特征在于，包括： 获取针对第一芯片进行ULPMark测试的地址映射信息；所述地址映射信息为在所述第一芯片进行所述ULPMark测试时，所述第一芯片中的存储器需要被访问的地址； 根据所述地址映射信息，确定所述第一芯片中的存储器的实际使用容量； 根据所述存储器的实际使用容量，确定所述第一芯片中存储器的可行容量，以根据所述可行容量对所述第一芯片的存储器的容量进行优化。
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