无锡英诺赛思科技有限公司;清华大学无锡应用技术研究院周德金获国家专利权
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龙图腾网获悉无锡英诺赛思科技有限公司;清华大学无锡应用技术研究院申请的专利一种功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置以及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115078943B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210555179.1,技术领域涉及:G01R31/26;该发明授权一种功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置以及系统是由周德金;徐宏;钟磊;濮旦晨;葛荣设计研发完成,并于2022-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置以及系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置,包括横向底板,安装架,顶紧气缸,连接座,温度检测架结构,压力检测承重架结构,测试架结构,处理器,触摸显示屏和寄存器,所述的横向底板的上部右侧螺栓安装有安装架;所述的安装架的左侧螺栓安装有顶紧气缸;所述的顶紧气缸的下部螺栓安装有连接座;所述的连接座的下部安装有温度检测架结构;所述的横向底板的上部左侧安装有压力检测承重架结构;所述的安装架的右侧安装有测试架结构;所述的安装架的上部安装有处理器。本发明电流电压可以灵活调整,以及增加测试功能。
本发明授权一种功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置以及系统在权利要求书中公布了:1.一种功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置,其特征在于,该功率MOS器件的源漏击穿电压测试装置,包括横向底板1,安装架2,顶紧气缸3,连接座4,温度检测架结构5,压力检测承重架结构6,测试架结构7,处理器8,触摸显示屏9和寄存器10,所述的横向底板1的上部右侧螺栓安装有安装架2;所述的安装架2的左侧螺栓安装有顶紧气缸3;所述的顶紧气缸3的下部螺栓安装有连接座4;所述的连接座4的下部安装有温度检测架结构5;所述的横向底板1的上部左侧安装有压力检测承重架结构6;所述的安装架2的右侧安装有测试架结构7;所述的安装架2的上部安装有处理器8;所述的安装架2的前侧安装有触摸显示屏9;所述的触摸显示屏9的右下侧安装有寄存器10;所述的温度检测架结构5包括压力检测板51,温度传感器52,导热铜板53,透明罩54和配重环55,所述的压力检测板51的内侧中间位置安装有温度传感器52;所述的压力检测板51内侧下部嵌入有导热铜板53;所述的压力检测板51的外侧从胶接有透明罩54;所述的透明罩54的下部胶接有配重环55;所述的压力检测承重架结构6包括安装板61,压力传感器62,承载板63,防尘套64和防护环65,所述的安装板61螺栓安装在横向底板1的上部左侧;所述的安装板61的上部四角处安装有压力传感器62;所述的压力传感器62的上部安装有承载板63;所述的承载板63的外侧下部套接有防尘套64;所述的防尘套64的外侧套接设置有安装板61的外侧;所述的防尘套64的下部胶接有防护环65;所述的测试架结构7包括蓄电池71,逆变器72,电位器73,源区接头74和漏区接头75,所述的蓄电池71安装在安装架2的右侧;所述的蓄电池71的上部安装有逆变器72;所述的逆变器72的右侧安装有电位器73;所述的电位器73分别与源区接头74和漏区接头75导线连接。
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