中国电子科技集团公司第二十九研究所谢国平获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第二十九研究所申请的专利一种多层印制电路板对位监测结构及其使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115479562B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211045261.6，技术领域涉及：G01B15/00；该发明授权一种多层印制电路板对位监测结构及其使用方法是由谢国平;戴广乾;边方胜;卢军;徐诺心;龚小林;林玉敏;闵显超;王焕清;苟中月设计研发完成，并于2022-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多层印制电路板对位监测结构及其使用方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种多层印制电路板对位监测结构及其使用方法，涉及电路基板技术领域，包括对位监测图形，所述对位监测图形位于多层印制电路板的边缘和或内部非产品布线区域，所述对位监测图形内部设置有独立监测图形块和辅助监测图形，位于所述多层印制电路板中间布线层的对位监测图形内部还设置刻度标尺。通过设置独立监测图形块和辅助监测图形，能够对独立监测图形块和辅助监测图形进行对位精度的定性观察。通过设置刻度标尺，能够对独立监测图形块和辅助监测图形进行对位精度的定量测量。
本发明授权一种多层印制电路板对位监测结构及其使用方法在权利要求书中公布了：1.一种多层印制电路板对位监测结构，其特征在于：包括对位监测图形1，所述对位监测图形1位于多层印制电路板2的边缘和或内部非产品布线区域，所述对位监测图形1内部设置有独立监测图形块3和辅助监测图形4，位于所述多层印制电路板2中间布线层的对位监测图形1内部还设置刻度标尺5； 所述对位监测图形1为矩形，所述刻度标尺5为非金属化图案，所述独立监测图形块3包括矩形图形8和或扇形图形9，每个所述矩形图形8大小相等，且每个矩形图形8至少有一条边和刻度标尺5的刻度线对齐； 不同布线层上的所述矩形图形8和或扇形图形9之间不重叠； 所述辅助监测图形4为圆形图形10。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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