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龙图腾网获悉北京无线电计量测试研究所申请的专利同心锥TEM室的装配方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115488800B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211218869.4，技术领域涉及：B25B11/02；该发明授权同心锥TEM室的装配方法是由黄承祖;刘星汛;崔腾林;彭博;赵鹏设计研发完成，并于2022-10-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本同心锥TEM室的装配方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种同心锥TEM室的装配方法。该同心锥TEM室的装配方法包括：依次对第一外锥段、第二外锥段、负载终端、负载终端压块、第一内锥段进行组装；依次对第二内锥段、第一支撑体、第三外锥段、第二支撑体以及第四外锥段进行组装；依次对第三内锥段、第三支撑体、第五外锥段、第四支撑体、第六外锥段进行组装；依次对内锥尖、第五支撑体、第七外锥段、外锥尖、以及接头进行组装。该同心锥TEM室的装配方法可以对同心锥TEM室采取分段安装的方式，在装配的同时，实时监测装配误差，从而能达到精确定位的目的。

本发明授权同心锥TEM室的装配方法在权利要求书中公布了：1.一种同心锥TEM室的装配方法，其特征在于，所述同心锥TEM室的装配方法包括： 步骤S1：依次对第一外锥段11、第二外锥段12、负载终端40、负载终端压块50、第一内锥段21进行组装，如果所述第一内锥段21的下端止口平面与所述第二外锥段12的下端止口平面共面，且所述负载终端40的上端面的上端止口平面与所述第一外锥段11的上端止口平面共面，则进行后续步骤，否则检查误差源返修； 步骤S2：依次对第二内锥段22、第一支撑体31、第三外锥段13、第二支撑体32以及第四外锥段14进行组装，如果所述第二内锥段22的上端止口平面、所述第三外锥段13的上端止口平面、以及所述第一支撑体31的顶面共面，且所述第二内锥段22的下端止口平面、所述第二支撑体32的底面、以及所述第四外锥段14的底面共面，则进行后续步骤，否则检测误差源返修； 步骤S3：依次对第三内锥段23、第三支撑体33、第五外锥段15、第四支撑体34、第六外锥段16进行组装，如果所述第三内锥段23的上端止口平面、所述第五外锥段15的上端止口平面、所述第三支撑体33的顶面共面，且所述第三内锥段23的下端止口平面、所述第六外锥段16的下端止口平面以及所述第四支撑体34的下端止口平面共面，则进行后续步骤，否则检测误差源返修； 步骤S4：依次对内锥尖24、第五支撑体35、第七外锥段17、外锥尖18、以及接头70进行组装，如果所述内锥尖24的顶端止口平面、所述第五支撑体35的顶面以及所述第七外锥段17的顶端止口平面共面，则完成所述同心锥TEM室的装配，否则检测误差源返修； 其中，在所述步骤S1中，将所述第一外锥段11放置在支架80上，然后依次进行所述第二外锥段12、所述负载终端40、所述负载终端压块50、所述第一内锥段21的组装。

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