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中国科学院力学研究所王君获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院力学研究所申请的专利一种非均质材料微结构参数的量化分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115641926B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211247233.2,技术领域涉及:G16C60/00;该发明授权一种非均质材料微结构参数的量化分析方法是由王君;郇勇;郭志鸿;肖驰;汪芷萱;代玉静;李钰设计研发完成,并于2022-10-12向国家知识产权局提交的专利申请。

一种非均质材料微结构参数的量化分析方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种非均质材料微结构参数的量化分析方法,首先将非均质材料的微结构几何特征依据micro‑CT体素点坐标进行散点化处理;设置非均质材料的代表性计算域,并确保计算域内各个方向上都应至少包含5个微结构特征胞元;通过计算域内微结构的实际体素点数与计算域内的饱和体素点数的比值,计算非均质材料的微结构的体积分数;计算出任意处的非均质材料微结构胞元壁的胞元最小壁厚与最大壁厚;判断非均质材料微结构胞元壁的结构形态类型;计算非均质材料微结构孔隙的特征尺寸;计算单位长度内的非均质材料微结构胞元的数量。

本发明授权一种非均质材料微结构参数的量化分析方法在权利要求书中公布了:1.一种非均质材料微结构参数的量化分析方法,其特征在于,主要包括以下步骤: 1首先将非均质材料的微结构几何特征依据micro-CT体素点坐标进行散点化处理; 2设置非均质材料的代表性计算域,并确保计算域内各个方向上都应至少包含5个微结构特征胞元; 3通过计算域内微结构的实际体素点数与计算域内的饱和体素点数的比值,计算非均质材料的微结构的体积分数; 4提取微结构的中轴线,沿着中轴线布置任意多个随机搜索点用于拟合每个搜索点处胞元壁的内切球和外接球,从而计算出任意点处的非均质材料微结构胞元壁的特征尺寸即胞元最小壁厚与最大壁厚; 5通过胞元最大和最小壁厚的比例,判断非均质材料微结构胞元壁的结构形态类型; 6提取微结构的负模型,计算非均质材料微结构孔隙的特征尺寸; 7结合非均质材料的微结构胞元平均壁厚与平均间隙尺寸,计算单位长度内的非均质材料微结构胞元的数量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院力学研究所,其通讯地址为:100190 北京市海淀区北四环西路15号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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