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江苏鲁汶仪器股份有限公司杨宇新获国家专利权

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龙图腾网获悉江苏鲁汶仪器股份有限公司申请的专利一种MRAM磁隧道侧壁沾污的控制方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115734700B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111006194.2,技术领域涉及:H10N50/01;该发明授权一种MRAM磁隧道侧壁沾污的控制方法是由杨宇新;李佳鹤;彭泰彦;胡冬冬;许开东设计研发完成,并于2021-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

一种MRAM磁隧道侧壁沾污的控制方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种MRAM磁隧道侧壁沾污的控制方法,该控制方法不需要额外的在MTJ层侧壁镀一层绝缘保护层,而是在刻蚀的过程中形成一种独特的漏斗状沟槽,该漏斗状沟槽包括背离所述衬底所在平面的第一区域,以及相邻所述衬底所在平面的第二区域,所述第一区域在所述第一方向上的尺寸逐渐增大,所述第二区域在所述第一方向上的尺寸不变;在去除漏斗状沟槽底部的金属沾污时,该漏斗状沟槽可以防止金属沾污附着在MTJ层的侧壁,进而提高MRAM的器件性能。

本发明授权一种MRAM磁隧道侧壁沾污的控制方法在权利要求书中公布了:1.一种MRAM磁隧道侧壁沾污的控制方法,其特征在于,所述控制方法包括: 提供一基础结构,所述基础结构包括在第一方向上依次设置的衬底、下电极、MTJ层和上电极,所述第一方向垂直于所述衬底且由所述衬底指向所述下电极; 从所述上电极背离所述衬底一侧的表面进行第一次刻蚀处理,直至暴露出所述衬底,且所述下电极相邻所述衬底的部分区域,在所述第一方向上的尺寸逐渐减小,所述下电极的其余区域,在所述第一方向上的尺寸不变; 继续进行第二次刻蚀处理,至少使所述下电极的全部区域在所述第一方向上的尺寸相等,且所述衬底具有漏斗状沟槽,其中,所述漏斗状沟槽包括背离衬底底面的第一区域,以及相邻衬底底面的第二区域,所述第一区域在所述第一方向上的尺寸逐渐增大,所述第二区域在所述第一方向上的尺寸不变; 去除所述漏斗状沟槽底部的金属沾污。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人江苏鲁汶仪器股份有限公司,其通讯地址为:221300 江苏省徐州市邳州经济开发区辽河西路8号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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