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龙图腾网获悉上海奕瑞光电子科技股份有限公司申请的专利多能谱X射线探测器及自动校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115998313B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210802971.2，技术领域涉及：A61B6/03；该发明授权多能谱X射线探测器及自动校准方法是由高鹏飞;程里朋;董佳宾;王䶮召;林言成;黄翌敏设计研发完成，并于2022-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本多能谱X射线探测器及自动校准方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种多能谱X射线探测器及自动校准方法，多能谱X射线探测器包括：下盖，依次设置于所述下盖上方的支撑件、过滤层、TFT模组及上盖；所述过滤层为N个，所述TFT模组为N+1个，所述过滤层与所述TFT模组交替叠置；其中，所述下盖的外表面到最底层TFT模组的上表面之间设置有至少两个标记物，或所述上盖的外表面到最顶层TFT模组的下表面之间设置有至少两个标记物；所述标记物的材质密度与相邻物质的材质密度不同；N为等于或大于1的整数。本发明的多能谱X射线探测器不需要额外的治具进行对准校正，减少了系统成本，操作简单便捷；能应用于医疗上的双能剪影，也能应用于其他领域的能谱分辨。

本发明授权多能谱X射线探测器及自动校准方法在权利要求书中公布了：1.一种自动校准方法，基于多能谱X射线探测器实现，其特征在于，所述多能谱X射线探测器至少包括下盖，依次设置于所述下盖上方的支撑件、过滤层、TFT模组及上盖；所述过滤层为N个，所述TFT模组为N+1个，所述过滤层与所述TFT模组交替叠置；其中，所述下盖的外表面到最底层TFT模组的下表面之间设置有至少两个标记物，或所述上盖的外表面到最顶层TFT模组的上表面之间设置有至少两个标记物；所述标记物的材质密度与相邻物质的材质密度不同；N为等于或大于1的整数；所述自动校准方法包括以下步骤： S1：通过沿X射线入射方向依次排布的N+1个所述TFT模组获取对应的待测物的N+1个原始图像； S2：通过边缘检测算子分别计算N+1个原始图像中所述标记物的边缘轮廓； S3：分别计算N+1个原始图像中所述标记物的大小，并分别计算第i个原始图像相对于第一个原始图像的缩放比例；其中，i为大于1且小于N+2的连续整数； S4：依据对应的缩放比例，分别对第2个至N+1个原始图像进行全局缩放处理，得到对应的N个缩放图像； S5：获取第一个原始图像及N个缩放图像，分别标记各图像中两个所述标记物的中心点，将同一图像中的两个中心点连成直线，并分别计算出各缩放图像中的直线与所述第一个原始图像中对应的直线投影在一起构成的夹角，将所述夹角作为旋转夹角； S6：以各所述旋转夹角的中心点为基点，分别将各所述缩放图像进行旋转，得到对应的旋转图像； S7：分别计算各旋转图像中任意一个所述标记物的中心点与所述第一个原始图像中对应的标记物的中心点之间的位移； S8：探测待测物的N+1个图像时，首先对获得的第i个图像依据对应的缩放比例进行全局缩放处理，然后依据对应的旋转夹角对第i个图像进行旋转，最后依据对应的位移对第i个图像进行平移操作，得到N个经过自动校正的图像；将经过自动校正的图像与第一个图像投影在一起并输出。

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