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龙图腾网获悉桂林理工大学;中国科学院地球化学研究所;南宁理工学院申请的专利基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116202996B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310122919.7，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法是由彭艳华;唐红;夏志鹏;曾小家;陈国柱;莫冰;王茜设计研发完成，并于2023-02-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法，包括以下步骤：1制备一系列单质金属铁含量不同的模拟月壤样品作为标准样品；2采集各标准样品的反射光谱，计算各标准样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度；3以样品中单质金属铁含量为纵坐标，以所述吸收深度为横坐标，拟合得到样品中单质金属铁含量与所述吸收深度之间的换算关系式；4采集月壤样品的反射光谱，计算月壤样品的反射光谱在2000nm波长处吸收带的吸收深度，然后由样品中单质金属铁含量与所述吸收深度之间的换算关系式计算出月壤样品中的单质金属铁含量。本发明可实现月壤中单质金属铁含量的无损、简单、高效和低成本测定。

本发明授权基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法在权利要求书中公布了：1.基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法，其特征在于，包括以下步骤： 1制备标准样品 制备一系列单质金属铁含量不同的模拟月壤样品作为标准样品； 2光谱测试及吸收深度计算 分别采集各标准样品的反射光谱，由式III计算各标准样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度， 式III中，d为反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度，λl、λr和λest分别为反射光谱在2000nm波长处的吸收带的左肩、右肩和吸收带最低点的波长，Rl、Rr和Rest分别为反射光谱在2000nm波长处的吸收带的左肩、右肩和吸收带最低点的反射率； 3确定单质金属铁含量与吸收深度之间的换算关系 以样品中单质金属铁含量为纵坐标，以样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度为横坐标，点绘各标准样品中单质金属铁含量与各标准样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度之间的关系，并拟合得到样品中单质金属铁含量与样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度之间的换算关系式； 4测试月壤样品中的单质金属铁含量 采集月壤样品的反射光谱，根据采集到的月壤样品的反射光谱，由式III计算月壤样品的反射光谱在2000nm波长处吸收带的吸收深度； 根据月壤样品在2000nm波长处的吸收带的吸收深度，由步骤3确定的样品中单质金属铁含量与样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度之间的换算关系式计算出月壤样品中的单质金属铁含量； 在采集各标准样品和月壤样品的反射光谱时，采集各标准样品和月壤样品在400～2150nm波段范围内的反射光谱。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人桂林理工大学;中国科学院地球化学研究所;南宁理工学院，其通讯地址为：541006 广西壮族自治区桂林市雁山区雁山街319号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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